国内偷自第一区二区三区,欧美A黄黑人大又爽又黄

熱門產(chǎn)品

看了該商品的顧客還看了

應(yīng)用方向：PD/APD芯片篩選測(cè)試，GaAs射頻芯片S參數(shù)測(cè)試，MEMS晶圓管芯篩選測(cè)試等。

APS-2000半自動(dòng)測(cè)試探針臺(tái)針對(duì)8英寸晶圓片測(cè)試而設(shè)計(jì)的一體化在片測(cè)試解決方案，同時(shí)可提供射頻微波、高壓大電流測(cè)量能力。探針臺(tái)載片臺(tái)平面采用鋁合金鍍金保證測(cè)試過(guò)程中的低接觸電阻、超薄晶圓片處理和功率耗散，同時(shí)提供低漏電噪聲的保護(hù)及屏蔽環(huán)境。為了保證高壓測(cè)試的人身安全，APS-2000探針臺(tái)采用了安全互鎖系統(tǒng)機(jī)構(gòu)和測(cè)試系統(tǒng)級(jí)聯(lián)。

AutoMap探針臺(tái)控制軟件簡(jiǎn)單直觀控制載片臺(tái)XYZ三向的步進(jìn)移動(dòng)，wafer圖形分布描述，芯片圖像對(duì)準(zhǔn)，坐標(biāo)定位等功能，同時(shí)配置經(jīng)典的四向迷你位置操作鍵盤。

ATE2.0晶圓參數(shù)自動(dòng)化測(cè)試軟件可控制多種測(cè)試儀器，包括半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、阻抗分析儀等，支持TPS200、APS-1500、FAPS-1500自動(dòng)化測(cè)試探針臺(tái)，實(shí)現(xiàn)晶圓在片的自動(dòng)化批量篩選測(cè)試。

主要功能：

WaferMap圖描述：采用工業(yè)相機(jī)，通過(guò)圖像算法實(shí)時(shí)掃描Wafer并對(duì)Die進(jìn)行對(duì)準(zhǔn)

Chuck控制：AutoMap軟件或經(jīng)典鍵盤多向操控Chuck移動(dòng)

Wafer圖形模式：圓形、陣列、環(huán)形、探邊多種形式式，可自定義學(xué)習(xí)模式。

Die坐標(biāo)查詢：實(shí)時(shí)顯示更新Die相對(duì)坐標(biāo)

打點(diǎn)方式：噴墨，離線打點(diǎn)、異步打點(diǎn)

測(cè)試接口：TTL電平、RS232、GPIB、以太網(wǎng)

支持探針：直流鎢探針、RF探針、高壓探針，大電流探針

支持儀器：Keysight 源表、網(wǎng)絡(luò)分析儀、LCR表；Keithley 2400,6487,2600B等

支持軟件：ATE2.0參數(shù)測(cè)試軟件

半自動(dòng)探針臺(tái)

應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

產(chǎn)品品牌

規(guī)格型號(hào)：

發(fā)貨期限：

庫(kù) 存：

產(chǎn) 地：

數(shù) 量：

價(jià) 格：

熱門產(chǎn)品

看了該商品的顧客還看了

咨詢

裝箱清單

售后保障

應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的相關(guān)同類產(chǎn)品：

半自動(dòng)探針臺(tái)

應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

產(chǎn)品品牌

規(guī)格型號(hào)：

發(fā)貨期限：

庫(kù) 存：

產(chǎn) 地：

數(shù) 量：

價(jià) 格：

我要詢價(jià)

熱門產(chǎn)品

看了該商品的顧客還看了

咨詢

裝箱清單

售后保障

應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的相關(guān)同類產(chǎn)品：