網站首頁

中|EN

當前位置: 首頁 » 設備館 » 半導體測試設備 » 電學性能測試 » 半自動探針臺 »半自動探針臺(200 mm Semi-Auto Probe Station)
    •
    包郵 關注:3311

    半自動探針臺(200 mm Semi-Auto Probe Station)

    產品品牌

    ADVANCED

    庫       存：

    50

    產       地：

    臺灣

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
    交易保障 擔保交易 網銀支付
    • 商品詳情
    • 商品參數(shù)
    • 評價詳情(0)
    • 裝箱清單
    • 售后保障

    品牌：ADVANCED

    型號：

    所屬系列：半導體測試設備-電學性能測試-半自動探針臺


          半自動探針臺(200 mm Semi-Auto Probe Station)

    八英電動移動平臺

    X-Y-Z-R移動行程分別為200mm/200mm/30mm/15degree

    X-Y-Z移動精度1um；R：0.01degree

    機臺由PC控制，軟件可以建立wafer map

    系統(tǒng)可以根據(jù)工程人員建立的wafer map自動點針

    系統(tǒng)可以搭配高倍顯微鏡和體式顯微鏡兩種光學系統(tǒng)

    光學部分搭配100萬象素的數(shù)字CCD

    系統(tǒng)具有自動校驗功能

    咨詢

    購買之前，如有問題，請向我們咨詢

    提問:
     

    應用于半導體行業(yè)的相關同類產品：

    服務熱線

    4006988696

    功能和特性

    價格和優(yōu)惠

    微信公眾號