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FIB雙束電鏡檢測(cè)
聚焦離子束雙束系統(tǒng)用于金屬、半導(dǎo)體、電介質(zhì)、多層膜結(jié)構(gòu)等固體樣品上制備微納結(jié)構(gòu)；高質(zhì)量定點(diǎn)TEM樣品制備；化學(xué)和晶體結(jié)構(gòu)三 |
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EBL光刻
為使用電子束在表面上制造圖樣的工藝，是光刻技術(shù)的延伸應(yīng)用，在半導(dǎo)體工業(yè)中被廣泛使用于研究下一代超大規(guī)模集成電路、Q器件、 |
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芯片漏電定位手段總結(jié)
芯片漏電是失效分析案例中最常見(jiàn)的，找到漏電位置是查明失效原因的前提，液晶漏電定位、EMMI（CCD\InGaAs）、激光誘導(dǎo)等手段是工程人員經(jīng)常采用的手段。多年來(lái)，在中國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)有個(gè)誤區(qū)，認(rèn)為激光誘導(dǎo)手段就是OBIRCH。今日小編為大家科普一下激光誘... |
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失效分析的意義
X-Ray 無(wú)損偵測(cè)：檢測(cè)IC封裝中的各種缺陷如層剝離、爆裂、空洞以及打線的完整性，PCB制程中可能存在的缺陷如對(duì)齊不良或橋接，開(kāi)路、短路或不正常連接的缺陷，封裝中的錫球完整性。 |
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失效分析技術(shù)服務(wù)
擅長(zhǎng)領(lǐng)域手動(dòng)探針臺(tái)Probe station，激光開(kāi)封機(jī)Laser decap，光發(fā)射顯微鏡EMMI，IV自動(dòng)曲線量測(cè)儀，紅外顯微鏡，半導(dǎo)體失效分析設(shè)備，集成電路測(cè)試：非破壞xing分析 |
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草酸氧化膜再生修復(fù)
我司運(yùn)用特殊工藝技術(shù)對(duì)半導(dǎo)體零部件刻蝕腔體腐蝕修復(fù)再生氧化鋁膜，使用效果能達(dá)到原新產(chǎn)品90%以上，保護(hù)退膜打磨保護(hù)氧化封閉 |
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連云港安美特鍍白膜燈管/碳纖維鍍白加熱管*鍍金加熱管最新行情
半鍍金石英加熱管特性特點(diǎn)：
半可大幅降低背面非加熱方向之溫度，減少設(shè)備或爐體之高溫，并可省去反射罩之使用。鍍金或鍍陶瓷反射層可集中熱能于加熱方向，提高熱效率并節(jié)省電能。
燈管表面溫度低于 800 ℃ ，建議使用鍍金反射層，更高溫度則建議... |
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18-02-02【安美特紅寶石紅外紅色暗光玫瑰紅加熱管】2w
紅寶石紅外線燈管的優(yōu)點(diǎn)：輻射率穩(wěn)定、高溫不變形、無(wú)有害輻射、無(wú)環(huán)境污染、耐高溫、抗蝕能力極高，化學(xué)穩(wěn)定性好、熱慣性小、熱響應(yīng)速度快、熱轉(zhuǎn)換效率高。 |
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