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    鍍層測厚儀是采用X射線熒光光譜分析技術(shù) 科冠電子

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-測厚設(shè)備-非接觸式測厚儀

    產(chǎn)品品牌

    科冠電子

    庫       存：

    100

    產(chǎn)       地：

    中國-江蘇省

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
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    品牌：科冠電子

    型號：

    所屬系列：半導(dǎo)體測試設(shè)備-測厚設(shè)備-非接觸式測厚儀

    鍍層測厚儀是采用X射線熒光光譜分析技術(shù) 科冠電子
    產(chǎn)品圖片

    分類導(dǎo)圖

    我們的鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù)，該技術(shù)已被普遍認可并且得到廣泛應(yīng)用,可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作，快速和無損的分析?？煞治龉腆w和液體，元素范圍包括從元素周期表中的14Si到92U。

    MAXXI 6針對較薄而復(fù)雜的樣品，具有完美的解決方案。MAXXI 6配備多準直器系統(tǒng)及超大樣品艙，是最佳功能性與最高檢測精度兼?zhèn)涞睦硐牍ぞ摺?/p>

    亮點：

    • 采用微聚焦X射線光管，實現(xiàn)高精度，高可靠性，測量時間短，購置成本低
    • 采用高分辨率的硅漂移探測器(SDD),提供能量級別的最佳效率，極低的檢出限（LOD)
    • 多準直器可優(yōu)化不同尺寸樣品熒光信號產(chǎn)額，提高測量效率
    • 開槽式超大樣品艙設(shè)計，十分適合電路板或其他超大平板樣品
    • “USB接口 ”只需通過USB與計算機連接，無需額外的硬件或軟件
    • 德國制造，符合最高工程標(biāo)準，堅固耐用的設(shè)計可實現(xiàn)長期可靠性
    • 通過PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)認證，滿足最高輻射安全標(biāo)準
    • 最多同時測定5層，15種元素及共存元素的校正
    • 同時實現(xiàn)多于25種元素的定量分析
    • 檢測方法通過ISO3497，ASTM B568，DIN50987和IEC 62321等認證
    • 對ROHS和貴金屬進行工廠預(yù)裝校準（可選）

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