鍍層測(cè)厚儀是采用X射線熒光光譜分析技術(shù) 科冠電子
我們的鍍層測(cè)厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù),該技術(shù)已被普遍認(rèn)可并且得到廣泛應(yīng)用,可以在無(wú)需樣品制備的情況下提供易于操作,快速和無(wú)損的分析??煞治龉腆w和液體,元素范圍包括從元素周期表中的14Si到92U。
MAXXI 6針對(duì)較薄而復(fù)雜的樣品,具有完美的解決方案。MAXXI 6配備多準(zhǔn)直器系統(tǒng)及超大樣品艙,是最佳功能性與最高檢測(cè)精度兼?zhèn)涞睦硐牍ぞ摺?/p>
亮點(diǎn):
- 采用微聚焦X射線光管,實(shí)現(xiàn)高精度,高可靠性,測(cè)量時(shí)間短,購(gòu)置成本低
- 采用高分辨率的硅漂移探測(cè)器(SDD),提供能量級(jí)別的最佳效率,極低的檢出限(LOD)
- 多準(zhǔn)直器可優(yōu)化不同尺寸樣品熒光信號(hào)產(chǎn)額,提高測(cè)量效率
- 開(kāi)槽式超大樣品艙設(shè)計(jì),十分適合電路板或其他超大平板樣品
- “USB接口 ”只需通過(guò)USB與計(jì)算機(jī)連接,無(wú)需額外的硬件或軟件
- 德國(guó)制造,符合最高工程標(biāo)準(zhǔn),堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)期可靠性
- 通過(guò)PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)認(rèn)證,滿(mǎn)足最高輻射安全標(biāo)準(zhǔn)
- 最多同時(shí)測(cè)定5層,15種元素及共存元素的校正
- 同時(shí)實(shí)現(xiàn)多于25種元素的定量分析
- 檢測(cè)方法通過(guò)ISO3497,ASTM B568,DIN50987和IEC 62321等認(rèn)證
- 對(duì)ROHS和貴金屬進(jìn)行工廠預(yù)裝校準(zhǔn)(可選)