網(wǎng)站首頁

中|EN

當前位置: 首頁 » 設(shè)備館 » 半導(dǎo)體測試設(shè)備 » 測厚設(shè)備 » 非接觸式測厚儀 »非接觸式測厚儀
    •
    滿20.00包郵 關(guān)注:1803

    非接觸式測厚儀

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-測厚設(shè)備-非接觸式測厚儀

    規(guī)格型號：

    CG1

    發(fā)貨期限：

    交貨期一個月天

    運費說明：

    :20.00  

    庫       存：

    1

    產(chǎn)       地：

    英國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    ￥200000.00
    交易保障 擔保交易 網(wǎng)銀支付
    • 商品詳情
    • 商品參數(shù)
    • 評價詳情(0)
    • 裝箱清單
    • 售后保障
    非接觸式測厚儀詳細描述：用于測量晶圓各個點的厚度，根據(jù)各點的厚度結(jié)果可以用來判斷晶圓產(chǎn)品的平整度，片內(nèi)厚度差TTV是否符合要求

      是一款高性能高精密的測量儀器，可以不接觸樣品表面進行厚度測量。這種方式可以避免接觸測量引起的表面損傷，特別適用于軟脆材料及對樣品表面質(zhì)量高要求的測量.該儀器能非常理想的用于半導(dǎo)體、光學及電光材料厚度的測量應(yīng)用。

     測量范圍：10毫米

     滿量程精度：1微米

     測量臂帶細調(diào)功能
           測量范圍0-180mm
           總高280mm
           重量 8 kg

     適用范圍：

     適用于晶圓厚度的在線測量。也適用于各種玻璃瓶、玻璃 杯、燈  泡、燈管的壁厚的在線或靜態(tài)測量。

     功能：

     在線實時測量監(jiān)控、數(shù)字顯示
           設(shè)備原理：

     采用無污染氣脈沖測量法，通過氣脈沖，在晶圓表面形成均勻氣膜，對被測物進行非接觸、無損傷厚度測量，采樣速度快精度高，性能穩(wěn)定，操作簡單。

     設(shè)備型號：OCTY302

     產(chǎn)地：英國

     交貨期：一個月

     

    咨詢

    購買之前，如有問題，請向我們咨詢

    提問:
     

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的相關(guān)同類產(chǎn)品：

    服務(wù)熱線

    4001027270

    功能和特性

    價格和優(yōu)惠

    微信公眾號