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非接觸式測(cè)厚儀介紹:
是一款高性能高精密的測(cè)量?jī)x器,可以不接觸樣品表面進(jìn)行厚度測(cè)量。這種方式可以避免接觸測(cè)量引起的表面損傷,特別適用于軟脆材料及對(duì)樣品表面質(zhì)量高要求的測(cè)量.該儀器能非常理想的用于半導(dǎo)體、光學(xué)及電光材料厚度的測(cè)量應(yīng)用。
功能:
在線實(shí)時(shí)測(cè)量監(jiān)控、數(shù)字顯示。
設(shè)備原理:
采用無(wú)污染氣脈沖測(cè)量法,通過(guò)氣脈沖,在晶圓表面形成均勻氣膜,對(duì)被測(cè)物進(jìn)行非接觸、無(wú)損傷厚度測(cè)量,采樣速度快精度高,性能穩(wěn)定,操作簡(jiǎn)單。
技術(shù)參數(shù):
測(cè)量臂帶細(xì)調(diào)功能
測(cè)量范圍:0-180毫米
厚度范圍0~500mm(或可按要求設(shè)定范圍)
樣品尺寸:8英寸及以下尺寸
讀數(shù)精度:0.1um
測(cè)量精度:1um
適用范圍:
適用于半導(dǎo)體材料的測(cè)量,如:磷化銦、碲鋅鎘、砷化鎵、藍(lán)寶石、硅片等,其他材料:陶瓷片、薄膜、高度拋光表面樣件等。
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