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    激光干涉膜厚測量儀 Xper-IP激光干涉膜厚測量儀 上海昊量

    應用于半導體行業(yè)：

    半導體測試設備-測厚設備-非接觸式測厚儀

    產(chǎn)品品牌

    上海昊量

    規(guī)格型號：

    Xper-IP激光干涉膜厚測量儀

    庫       存：

    100

    產(chǎn)       地：

    中國-上海市

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    ￥10000.00
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    品牌：上海昊量

    型號：Xper-IP激光干涉膜厚測量儀

    所屬系列：半導體測試設備-測厚設備-非接觸式測厚儀

    Xper-IP激光干涉膜厚測量儀

     Xper-IP是基于Nanobase公司特有的光譜干涉技術的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、精確且快速的光學薄膜厚度測量設備。Xper-IP可用于測量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的絕對厚度。

    薄膜測厚儀，激光干涉儀，膜厚測量儀，激光干涉薄膜測量系統(tǒng)

               韓國Nanobase公司是一家專注于激光和光譜測量領域的高科技公司，旗下有多種產(chǎn)品，包括拉曼光譜成像系統(tǒng)，OCT光學相干斷層掃描系統(tǒng)，可調(diào)諧激光器和激光干涉薄厚測量儀。

    Xper-IP正是基于Nanobase特有的光譜干涉技術的一款膜厚測量儀，是一種非接觸式、無損的、精確且快速的光學薄膜厚度測量設備。Xper-IP可用于測量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的絕對厚度，產(chǎn)品具有以下特點：

    絕對精度 ±0.2 %

    重復準度 ±0.003 %

    超寬測量范圍 10 mm to 1 mm

       人性化軟件，易于使用

    性價比高

    同時測量多層膜厚

    結構堅固，適用于實驗室和工業(yè)環(huán)境

     

    參數(shù)

    型號

    Xper-ITP（激光干涉測厚）

    Xper-ISP（激光干涉測表面形貌）

    測量范圍

    100-1000微米，200-2000微米，(或者定制波長范圍，與光譜儀分辨率成反比)

    準確度

    ±0.2 %

    重復性

    單點：0.01% full range（<100nm）

    平均：0.003% full range（<30nm）

    速度

    激光：標準30pps，（最大100，000pps）

    光源

    激光：SLD(840nm)

     應用領域

    半導體，太陽能，SiC Coat, Si Coat, Polished Si, Optical disk

    平板顯示，Cell gap, Glass thickness, DLC, Highfunction film

    光學薄膜，醫(yī)用聚合物材料等，AR film, PET, Coating layer, Coating film, Evaporation film, Functionality film, Acrylic resin, Video head, etc.



     
















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