網(wǎng)站首頁

|EN

當(dāng)前位置: 首頁 » 設(shè)備館 » 半導(dǎo)體測試設(shè)備 » 電學(xué)性能測試 »IV曲線測試儀
    包郵 關(guān)注:432

    IV曲線測試儀

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè):

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-電學(xué)性能測試

    產(chǎn)品品牌

    ADVANCED

    庫       存:

    1000

    產(chǎn)       地:

    全國

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌:ADVANCED

    型號:

    所屬系列:半導(dǎo)體測試設(shè)備-電學(xué)性能測試

    主要參數(shù):

    1. 高分辨率之I/V量測范圍,Voltage Measure Range可達(dá) 200mV ~ 200V(需搭配keithly 2400), Current Measure Range可達(dá)1uA ~ 1A,且測試Channel可從 64 pin逐步擴(kuò)充至Max.4096 pin,以滿足客戶多元化之產(chǎn)品測試需求。

    2. 機(jī)臺主要測試功能,包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏電) Test

    可協(xié)助客戶解決其產(chǎn)品在DC Fail之電性分析,并節(jié)省客戶上Functional Tester 之借機(jī)成本及時(shí)間。
    3.采用電腦化控制的操作系統(tǒng),比傳統(tǒng)的Curve Tracer更易于量取I/V data 及產(chǎn)生格式化的report。

    4.Windows的操作系統(tǒng),易學(xué)易懂,而所建立的Device之Pin Assignment 可儲存在電腦中,未來可重復(fù)被使用,比傳統(tǒng)的Switching Matrix更便利省時(shí)。

    5.機(jī)臺可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏電分析。

    6.機(jī)臺本身除了可作產(chǎn)品的失效分析外,還可結(jié)合Auto Handler,做Mass Production之Open/Short Test,可謂一機(jī)多用。

    咨詢

    購買之前,如有問題,請向我們咨詢

    提問:
     

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的相關(guān)同類產(chǎn)品:

    服務(wù)熱線

    4001027270

    功能和特性

    價(jià)格和優(yōu)惠

    微信公眾號