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    包郵 關(guān)注:464

    IV曲線測(cè)試儀

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備-電學(xué)性能測(cè)試

    產(chǎn)品品牌

    ADVANCED

    庫       存：

    1000

    產(chǎn)       地：

    全國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價(jià)       格：

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌：ADVANCED

    型號(hào)：

    所屬系列：半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備-電學(xué)性能測(cè)試

    主要參數(shù)：

    1. 高分辨率之I/V量測(cè)范圍,Voltage Measure Range可達(dá) 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可達(dá)1uA ~ 1A，且測(cè)試Channel可從 64 pin逐步擴(kuò)充至Max.4096 pin，以滿足客戶多元化之產(chǎn)品測(cè)試需求。

    2. 機(jī)臺(tái)主要測(cè)試功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏電) Test

    可協(xié)助客戶解決其產(chǎn)品在DC Fail之電性分析，并節(jié)省客戶上Functional Tester 之借機(jī)成本及時(shí)間。
    3.采用電腦化控制的操作系統(tǒng)，比傳統(tǒng)的Curve Tracer更易于量取I/V data 及產(chǎn)生格式化的report。

    4.Windows的操作系統(tǒng)，易學(xué)易懂，而所建立的Device之Pin Assignment 可儲(chǔ)存在電腦中，未來可重復(fù)被使用，比傳統(tǒng)的Switching Matrix更便利省時(shí)。

    5.機(jī)臺(tái)可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏電分析。

    6.機(jī)臺(tái)本身除了可作產(chǎn)品的失效分析外，還可結(jié)合Auto Handler，做Mass Production之Open/Short Test，可謂一機(jī)多用。

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