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    手動高低溫探針臺 HMP-800SC 可測8’’晶圓 HMP-1200SC 可測12’’晶圓

    應用于半導體行業(yè)：

    半導體測試設備-電學性能測試-手動探針臺

    產(chǎn)品品牌

    上海起南

    庫       存：

    100

    產(chǎn)       地：

    全國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
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    品牌：上海起南

    型號：

    所屬系列：半導體測試設備-電學性能測試-手動探針臺

    手動高低溫探針臺
     
    型號：HMP-800SC 可測8’’晶圓
    型號：HMP-1200SC 可測12’’晶圓
     
    此款手動探針臺系統(tǒng)針對于新一代半導體裝置設計，非常低的噪音和低的漏電流。在這個系統(tǒng)中，屏蔽的樣品腔包含探針和樣品臺全部都在EMI屏蔽環(huán)境中。此系統(tǒng)支持超低信號測試，1/f噪音測試，S參量測試，和高速I-V測試在控溫變溫環(huán)境中從-60℃到300℃（或者特殊環(huán)境到400℃）
    此探針臺系統(tǒng)可選支持高電流和高電壓功率測試。
    HMP-610SC 6’’晶圓可選。
     
    應用：
    溫度范圍：室溫到300℃或-60℃到300℃
    超低信號I-V測量（fA級）
    各種C-V測量（準靜態(tài)C-V, HF-CV，RF-CV）[sub pF級]
    1/f噪音評估
    RTN（自由電子噪音）評估
    高頻噪音評估（到800MHz）
    RF測量（到67GHz）/S 參數(shù)測量
    超高速I-V測量
    擴展應用：
    支持探卡（支持多點位晶圓可靠性測試WLR）
    光電子中光接收/發(fā)散特性評估應用（如：LED，LD，VCSEL，PD）
    高功率元器件測量（200A脈沖，+/-3kV三軸,+/-10kV同軸）
    晶圓的可靠性測試（如：EM，TDDB，HCI，NBTI，BT）

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