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    Semishare FA系列失效分析探針臺

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備-電學性能測試-手動探針臺

    產(chǎn)品品牌

    semishare(森美協(xié)爾)

    規(guī)格型號:

    FA-8/FA-8-SC

    發(fā)貨期限:

    面談天

    庫       存:

    10

    產(chǎn)       地:

    中國

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

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    品牌:semishare(森美協(xié)爾)

    型號:FA-8/FA-8-SC

    所屬系列:半導體測試設備-電學性能測試-手動探針臺

    詳情請咨詢趙經(jīng)理 15323433820

    應用方向:常溫和高低溫環(huán)境下的芯片失效分析

    特點
    失效分析實驗室專用
    大手柄驅(qū)動,操作舒適,無回程差設計,定位準確
    可做LC液晶熱點偵測
    激光最小可加工精度1*1um
    激光可選擇性去除特定材料而不損傷下層
    芯片內(nèi)部線路/電極/PAD測試
    適用于IC/面板內(nèi)部線路修改/去層 射頻特性器件失效分析
    可升級用于12英寸以內(nèi)樣品測試
    材料/器件的IV/CV特性測試及失效分析 

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