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TYTAN控制系統(tǒng)可以直接從觸摸屏來控制溫度感、氣體流量、壓力控制、順時和順序啟動、硅片裝卸載。 控制系統(tǒng)由這幾個單元構(gòu)成FCS—10/30 爐體控制系統(tǒng), FCS-20工藝控制主機, TCU 溫度控制單元,MFS-460 質(zhì)量流量控制系統(tǒng)以及DCS-30數(shù)據(jù)收集系統(tǒng)。所有控制單元之間通訊采用SECS/GEM 協(xié)議。
硅片污染和顆粒沉積是設備制造和研發(fā)工程的關(guān)注事項。用于配氣系統(tǒng)以及與反應器中的硅片相接觸的所有部件的材料都是經(jīng)過仔細挑選的高純度、耐化學腐蝕材料。在預清洗和爐系統(tǒng)裝配過程中要格外注意。在氣體輸入到反應器管處均使用點式氣體過濾器。選配層流系統(tǒng)的凈化工作臺的凈化等級能夠優(yōu)于10級。
Tytan 系統(tǒng)具有安全互鎖和其他測量功能以確保安全,并減少因零部件故障引起的事故,斷電和操作失誤。錯誤的狀態(tài)會觸發(fā)報警并顯示在觸摸屏上,并且激活燈塔和蜂鳴器。每根爐管都是單獨來控制的,所以一根爐管有故障不會影響其他爐管工作。每一個系統(tǒng)都有一個主電源開關(guān)和急停按鈕。
氣體控制的設計理念是自動控制防止故障產(chǎn)生,這樣一來可以減少操作人員的憂慮。當有緊急情況時,系統(tǒng)會自動啟動氮氣吹掃模式。安全互鎖也應用在氣體控制系統(tǒng)起到控制特定的氣路,時間延時和防止氣體流量低于設定值或與其他氣體不兼容等作用。在工藝爐爐門打開狀態(tài),爐管內(nèi)壓力過高或者爐管內(nèi)溫度過低的狀態(tài)時,反應氣流不會被激活。
有毒/易燃氣體泄漏已經(jīng)得到預防,因為我們選用的都是高質(zhì)量的元件,通過氦氣檢漏測試,自動焊接316不銹鋼管道,VCR墊片,雙壁管道以及各個氣路的安全截止閥。氣體控制系統(tǒng)會啟動安全互鎖關(guān)閉反應氣體以應泄漏事故或者吹掃氮氣氣流低于某個設定值。所有的特氣控制元件是安裝在一個有排風的氣柜中。所有的特氣管道都是經(jīng)過電子拋光的,這樣可以有效減少顆粒的產(chǎn)生和表面殘留。
TYTAN 爐系統(tǒng)可以用于半導體行業(yè)各種常規(guī)的常壓工藝。工藝可以在1150℃以上使用,要求使用厚壁的石英爐管,碳化硅管襯,碳化硅舟和碳化硅懸臂桿。
氧化工藝
濕法氧化工藝用于生長氧化硅厚膜(> 100 nm),主要應用于絕緣層(場氧化層和局部氧化層)和摻雜擴散阻擋層,它們對氧化的要求不太高.
參考如下三種濕法氧化工藝:
濕法氧化工藝 | 優(yōu)勢 | 劣勢 |
閃蒸式濕法氧化 | 既適合厚的氧化膜也適合薄的氧化膜,均勻性較好. | 價格較貴. |
火焰式濕法氧化 | 價格便宜,污染少,只需要提供相應的供氣系統(tǒng),均勻性較好 | 不適合制備厚膜,因為火焰燃燒,與氫氣存在安全風險. |
純水鼓泡式濕法氧化 | 價格適中,可接受的均勻性(當用于制備厚膜時 | 價格適中,可接受的均勻性(當用于制備厚膜時)薄膜氧化存在不均勻的問題,冷的水蒸氣引起溫度失調(diào),生長較慢因為只使用一半的氣體. |
典型膜厚: | 500 nm at 1,000 ?C (flat) using DI water method < 50 nm at 1,000 ?C (flat) using pyrogenic method |
最大薄膜厚度: | 20 microm at 1,000 ?C (flat) using DI water bubbler 3 microm at 1,000 ?C (flat) using pyrogenic method |
批產(chǎn)能: | 100 in 18 flat zone 200 in 34 heater |
氧化速率: | Standard Chart Rates Deal-Grove for both methods |
反應氣體: | Hydrogen/Oxygen (Pyrogenic only), DI H2O Steam |
氧化溫度: | 800 - 1250 ?C |
折射率: | 1.4 - 1.47 |
均勻性指標: | < 3% 1σ at thickness < 2000 ? < 2% 1σ at thickness > 2000 ? |
應用范圍: 光波導,絕緣層、隔離(場氧化層和局部氧化層)、摻雜劑擴散阻擋
干法氧化相較于濕法氧化工藝反應速度慢,主要是因為氧化反應時氧氣通過氧化硅層進入到硅/氧化物界面時速度較慢。它可以用來制備致密的無針孔的氧化物,所以優(yōu)先用于生長柵氧化層和表面鈍化。比如用于氮化硅壓力緩沖的氧化膜,離子注入時的屏蔽氧化層,用于表面缺陷處理的犧牲層,用于淺溝槽絕緣的氧化層。二氯乙烯是一種氯的無臭氧消耗物質(zhì)用于清除移動的金屬離子沾污以削減對柵氧化層的破壞。另外它還可以提高百分之幾的氧化工藝的生長速率。
典型膜厚: | 10 nm to 0.5 μm |
批產(chǎn)能: | 100 in 18 flat zone 200 in 34 heater |
氧化速率: | Standard Chart Rates Deal-Grove |
反應氣體: | Oxygen, TLC (C2H2Cl2) |
氧化溫度: | 800 - 1250 ?C |
折射率: | 1.45 - 1.47 at 550 nm |
均勻性指標: | < 5% 1σ for thickness of 100 to 500 ? < 3% 1σ for thickness >500 ? |
應用范圍: 柵極氧化,表面鈍化,氮化物應力阻擋,犧牲層和氧化層等
注意:工藝溫度超過1,150 ?C需要使用碳化硅懸臂槳,舟和管襯.
光波導器件要求厚度(>10microm)均勻和折射率均勻的氧化硅薄膜。Tystar 多年以來一直為這些應用領域提供工藝技術(shù)。在半導體器件應用中經(jīng)常使用的技術(shù)是火焰式氧化工藝,使氫氣和氧氣在爐管內(nèi)或爐管外的容器內(nèi)燃燒生成水蒸氣用于氧化工藝。典型的氧化工藝溫度超過1100℃并且氧化時間需要幾天到幾周的時間來滿足厚度方面的需求。 Tystar 推薦的氧化方式是采用的一個持續(xù)純水供應系統(tǒng)結(jié)合液體流量控制器和閃蒸器的方式。液體流量控制器可控制的范圍最大可達10 立方厘米每分鐘。通入4立方厘米每分鐘的純水可以得到5升每分鐘的氣體。
下面使用TYTAN 2000 系統(tǒng)生產(chǎn)8"/200 mm硅片生長約15microm厚膜時得到的硅片數(shù)據(jù):
這個工藝中,硅片被放置在裝有固態(tài)源的舟中,當加熱時固態(tài)源會釋放 B2O3 或 P2O5.摻雜的氧化物凝結(jié)在硅片表面并生成硼化玻璃或磷化玻璃.雜質(zhì)原子然后擴散進入硅表面。如果有要求,摻雜劑可以使用 Sb2O3 和Zn3P2.
The Sb2O3 固態(tài)源需要使用一個操作溫度為 620 - 660°C 的單獨擴散爐,在上述溫度時,Sb2O3 蒸汽壓力足夠提供運載氣體進入固定硅片的擴散區(qū)。硅片內(nèi)銻的濃度和已擴散的表面方塊電阻取決于以下因素:
典型的銻擴散層具有方塊電阻在 10到 60 Ω/□ 之間或表面濃度從5 x 1018 to 5 x 1019/cm3 特征。典型的 Sb2O3 擴散溫度是在 1,230℃ 和 1,280℃ 之間,所以它要求使用上述指定的高溫材料。工藝爐管的進氣組件超過了擴散溫區(qū),并且它附著在擴散溫區(qū)的加熱爐體上延長穿過這個短的三個溫度的爐系統(tǒng)。從固態(tài)源爐到擴散區(qū),平穩(wěn)的溫度控制是不可缺少的,不能出現(xiàn)溫度下降或 Sb2O3 的濃度不收控制的現(xiàn). 34"/860 mm 長的擴散區(qū)和 6"/150 mm 固態(tài)源加熱區(qū)的溫度控制在 < 1°C.
Sb2O3 材料被裝在固態(tài)源爐的石英舟內(nèi),它從延長的擴散爐管的氣體進口進行裝載,使用一個錐形的石英法蘭或球頭來連接氣體進氣和工藝爐管。用于Sb2O3 擴散的工藝氣體使用的是一種氣體,可以是氮氣或者氮氣&氧氣的混合氣體或者干氬. 氬氣工藝可以最低程度的減少 Sb2O3 氧化成 Sb2O4. Sb2O4 相較于 Sb2O3 具有較低的蒸汽壓力和導致 Sb2O3 濃度的下降。多個硅片可以裝載一個 Sb2O3 的固態(tài)源爐體。由于爐管尾氣端的 Sb2O3 和 Sb2O4 會出現(xiàn)冷凝,所以會帶來顆粒的問題。在尾端放置一個冷凝杯用來拾取Sb2O3 和 Sb2O4.
在這些工藝中,氮氣攜帶液態(tài)源進入工藝爐管內(nèi),在爐管內(nèi)和氧氣反應生產(chǎn)硼化玻璃或磷化玻. 從而將雜質(zhì)擴散到硅片內(nèi).
退火一般用于如摻雜擴散/活化,氧化/玻璃致密化,修復因離子注入導致晶體的晶格破壞,硅化物的形成,硼化玻璃或磷化玻璃均勻回流以及形成平坦的表面,和消除薄膜應力。退火工藝的運行通常是通入常壓下的氮氣,氬氣或混合氣體(混有氫氣的氮氣)的一種氣體. 混合氣體中的氫氣可以鈍化襯底表面和抵消載流子的捕獲.
應用范圍: 消除壓力、氧化/玻璃致密化,玻璃回流平坦化,摻雜擴散/活化、鈍化
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