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    紅外線顯微鏡系統(tǒng)

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-顯微鏡分類-金相顯微鏡

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    1

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    全國

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     與工研院量測中心共同合作，開發(fā)客制化晶圓對位設(shè)備之外，也提供紅外線顯微鏡產(chǎn)品。

    近年來，深受半導(dǎo)體、光電、光通訊(III-V) 、面板產(chǎn)業(yè)客戶愛戴，成功使用本設(shè)備找出晶圓上下層積體電路對位偏移量，以及找出晶圓內(nèi)部的缺陷瑕疵變化。

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