BA310MET-DIC是定向適用于LCD生產(chǎn)領(lǐng)域，主要運用于導(dǎo)電粒子爆破觀察，ITO工藝檢測，玻璃切割面檢測等；采用德國光學(xué)設(shè)計，配置長距物鏡；自主研發(fā)的DIC觀察組，可在干涉成像中清晰的觀察到粒子開口狀態(tài)，廣泛使用在TFT/TP/LCM行業(yè)。
具體參數(shù)：
目鏡：大視野 WF10X(視場數(shù)Φ20mm)
總放大倍數(shù)：50x-1000x
照射系統(tǒng)：落射偏光照明器組：12V/50W鹵素?zé)魹椴僮髡咛峁┏渥懔炼?，以滿足各種情況下的樣本觀察。電源內(nèi)置在顯微鏡機身，照明器直接與顯微鏡機身上的電源插座連接，亮度調(diào)節(jié)旋鈕位于機身右側(cè)，使操作及搬動更加方便。帶可變光欄裝置、調(diào)中裝置，保證視場照明均勻。可配偏光觀察裝置。
機械移動平臺
機械載物臺：硬膜涂層表面，防腐、耐磨，面積140x135mm，行程76X50mm，粗微同軸。調(diào)查焦行程為30mm，微調(diào)格值0.002mm，以保證充足的操作距離。
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