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4001027270
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系列掃描探針顯微鏡 |
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| CSPM5500/CSPM5500A/CSPM5500LS |
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國際主流的研究級專業(yè)儀器，集成原子力顯微鏡(AFM)，橫向力顯微鏡(LFM)，掃描隧道顯微鏡(STM) |
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分辨率： 原子力顯微鏡：橫向0.2nm，垂直0.03nm（以云母晶體標定） |
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掃描隧道顯微鏡：橫向0.1nm，垂直0.01nm（以石墨晶體標定） |
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高精度計量型儀器，采用NanoSensors提供的可溯源于國際計量權(quán)威機構(gòu)PTB的標準樣品進行校準 |
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一鍵式快速全程全自動進樣，無需手動預(yù)調(diào)，行程大于30mm，可容納超大樣品，最大樣品尺寸為：45mm×45mm×30mm |
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兩級可讀數(shù)樣品調(diào)節(jié)機構(gòu)，可對樣品進行精確的檢測區(qū)域定位 |
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一次掃描技術(shù)，圖像分辨高達4096×4096物理象素，微米級掃描即可得到納米級的實際信息 |
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先進PID反饋算法實現(xiàn)快速高精度作用力控制，確保系統(tǒng)在高速掃描中穩(wěn)定成像，實際掃描速度提升一個數(shù)量級 |
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系統(tǒng)采用10M/100M快速以太網(wǎng)(Fast Ethernet 10/100)或USB 3.0與計算機連接，支持固件遠程升級 |
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主控機箱前面板具有16×4液晶顯示屏，系統(tǒng)當前狀態(tài)實時顯示 |
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具備實時在線三維圖像顯示功能，便于用戶在檢測過程中隨時直觀獲得樣品信息 |
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集成了多功能，多模式的新型原子力顯微鏡。 |
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系統(tǒng)功能 |
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 標準模塊： |
| 原子力顯微鏡(AFM)：包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式 |
| 橫向力顯微鏡(LFM)：具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力恒載荷曲線等摩擦學(xué)性能分析測量功能 |
| 掃描隧道顯微鏡(STM)：包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線、I-Z曲線等 |
| 曲線測量分析功能：力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等 |
| 選配功能： |
| 納米加工：包括圖形刻蝕模式、壓痕/機械刻畫、矢量掃描模式、DPN浸潤筆模式等 |
| 磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡 |
| 環(huán)境控制掃描探針顯微鏡 |
| 液相掃描探針顯微鏡 |
| 導(dǎo)電原子力顯微鏡 |
| 掃描探針聲學(xué)顯微鏡 |
| 掃描開爾文探針顯微鏡 |
| 掃描電容顯微鏡 |
| 壓電力顯微鏡 |
| 樣品溫度控制系統(tǒng)（控溫范圍：-20～150℃） |
| 樣品加熱系統(tǒng)（控溫范圍：室溫～250℃） |
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