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    OKOS超聲波掃描顯微鏡

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-顯微鏡分類-掃描顯微鏡

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    全國

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     特點
    超聲掃描顯微鏡是全球最新一代的超聲測試設(shè)備,可在生產(chǎn)線中用手工掃描方法來檢測器件的缺陷等。該設(shè)備可利用不同材料對超聲波聲阻抗不同，對聲波的吸收和反射程度不同，來探測半導(dǎo)體、元器件的結(jié)構(gòu)、缺陷、對材料做定性分析。先進的聲學(xué)顯微成像（ AMI ）的技術(shù)是諸多行業(yè)領(lǐng)域在各類樣品中檢查和尋找瑕疵的重要手段。在檢查材料本身或粘結(jié)層之間必須保持完整的樣品時，這項技術(shù)的優(yōu)勢尤為突出。
    VUE 400-P (1500 mm/s, +/- 0.5 micron, 380 mm)
    VUE 250-P (500 mm/s, +/- 1.0 micron, 250 mm)
    主要應(yīng)用: 
    該系統(tǒng)功能是專門為半導(dǎo)體電子中的模塑設(shè)計的，可以完美的檢測如下次要缺陷：
    ．封裝裂紋
    ．分層
    ．裸片裂紋
    ．樹脂里的孔洞
    ．裸片粘附差
    ．引線鍵合差
    ．該系統(tǒng)的特征是3D成像、實時3D成像、A-掃描、B-掃描、C-掃描、T-掃描和S-成像
     

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