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    半導體/FPD檢查顯微鏡:OLYMPUS MX61系列

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備-顯微鏡分類-金相顯微鏡

    庫       存:

    100

    產(chǎn)       地:

    全國

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
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    品牌:

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-顯微鏡分類-金相顯微鏡

    產(chǎn)品特點:

    1.為用戶提供高效率。MX61適用于最大200mm的樣本,而MX61L則可適用于最大300mm的樣本。

    2.大型載物臺搭載:可用于400*300mm液晶基板,300mm晶圓全面檢查

    3.采用高NA的透射光聚光鏡,圖象更銳利。

    4.多種觀察方式,多種照明方式,多種附件以滿足不同應用要求。

    5.透射和反射照明可同時使用,極大提高液晶基板觀察效果。

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