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當(dāng)前位置: 首頁(yè) » 設(shè)備館 » 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備 » 顯微鏡分類(lèi) » 微光顯微鏡 »光發(fā)射電子顯微鏡
    包郵 關(guān)注:405

    光發(fā)射電子顯微鏡

    產(chǎn)品品牌

    ADVANCED

    庫(kù)       存:

    30

    產(chǎn)       地:

    臺(tái)灣

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌:ADVANCED

    型號(hào):

    所屬系列:半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備-顯微鏡分類(lèi)-微光顯微鏡

    光發(fā)射顯微鏡是器件分析過(guò)程中針對(duì)漏電失效模式,必不可少的分析工具。器件在設(shè)計(jì)、生產(chǎn)制造過(guò)程中有絕緣缺陷,或者期間經(jīng)過(guò)外界靜電擊穿,均會(huì)造成器件漏電失效。漏電失效模式的器件在通電得狀態(tài)下,內(nèi)部形成流動(dòng)電流,漏電位置的電子會(huì)發(fā)生遷移,形成電能向光能的轉(zhuǎn)化,即電能以光能的方式釋放,從而形成200nm~1700nm紅外線(xiàn)。光發(fā)射顯微鏡主要利用紅外線(xiàn)偵測(cè)器,通過(guò)紅外顯微鏡探測(cè)到這些釋放出來(lái)的紅外線(xiàn),從而精準(zhǔn)的定位到器件的漏電點(diǎn)。我司推出的P-100光發(fā)射顯微鏡(EMMI),在同業(yè)中具有超高的性?xún)r(jià)比,并憑借良好的售后服務(wù),迅速占領(lǐng)市場(chǎng).目前大中國(guó)地區(qū)的知名失效分析客戶(hù)有: 上海宜碩、深圳宜智發(fā)、上海閎康、上海礬詮、廣州五所、北京電科院、東南大學(xué)、樂(lè)山菲尼克斯、深圳明微

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