服務(wù)熱線
4006988696
型號: PW-400
規(guī)格:
chuck尺寸100mm
X,Y移動行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm(選項)
搭配AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)2~4顆
適用領(lǐng)域:4寸Wafer,如晶圓廠、LED、學術(shù)單位等
型號: PW-600/PW-800
規(guī)格:
chuck尺寸150mm(200mm)
X,Y電動移動行程150mm(200mm)
chuck粗調(diào)升降8mm,微調(diào)升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)6~8顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域:6寸/8寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品
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