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    包郵 關(guān)注:465

    全光譜橢圓偏光測厚儀

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-測厚設(shè)備

    庫       存：

    5

    產(chǎn)       地：

    中國-上海市

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
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    品牌：

    型號：

    所屬系列：半導(dǎo)體測試設(shè)備-測厚設(shè)備

    高質(zhì)量之光學(xué)與電動組件,無需防震桌
    可搭配反射儀使用,可于日后Upgrade (優(yōu)勢)
    可量測透明基板,無需背后處理 (優(yōu)勢)
    可Upgrade為 in live量測設(shè)備 (優(yōu)勢) 采用進(jìn)口光譜儀,冷卻到零下15℃，精度高,速度快,訊噪比較非冷卻的傳統(tǒng)光
    譜儀，可提升256倍之多 (目前業(yè)界唯一)
    使用步進(jìn)馬達(dá)并非Rotating Polarizer,避免馬達(dá)損壞 (目前業(yè)界唯一)
    固定量測角度-70度,可避移動時所造成的量測誤差與機(jī)械損害 (所有光學(xué)儀器
    都應(yīng)減少移動)
    可遠(yuǎn)程遙控，很好的協(xié)助客戶評估設(shè)備以及提高售后的效率 (目前業(yè)界唯一)
    擁有強(qiáng)大的材料分析數(shù)據(jù)庫，建立或更改一個測量Recipe非常輕松。只需按
    照名稱選取材料，就能夠更改基底、環(huán)境和膜層的光學(xué)常數(shù)。 通過比較測量
    結(jié)果和材料的理論光學(xué)常數(shù)，能夠評價膜層的質(zhì)量 (優(yōu)勢)
    客制化制作，依據(jù)客戶的樣品尺寸提供多種設(shè)備規(guī)格以供選擇 (優(yōu)勢)

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