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    GWS-晶圓外延缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備

    庫(kù)       存：

    1

    產(chǎn)       地：

    全國(guó)

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價(jià)       格：

    面議
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    品牌：

    型號(hào)：

    所屬系列：半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備

     GWS-晶圓外延缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

    從操作員的目視檢查到檢測(cè)設(shè)備的自動(dòng)化

     

    1） 超越目視檢查水平的檢測(cè)性能

    2） 缺陷位置的可視化以及缺陷圖像可存儲(chǔ)化

    3） 可對(duì)應(yīng)OHT 和 MES 

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