網(wǎng)站首頁

中|EN

當(dāng)前位置: 首頁 » 設(shè)備館 » 半導(dǎo)體測試設(shè)備 »GWS-晶圓外延缺陷檢測系統(tǒng)
    •
    包郵 關(guān)注:254

    GWS-晶圓外延缺陷檢測系統(tǒng)

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體測試設(shè)備

    庫       存：

    1

    產(chǎn)       地：

    全國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付
    • 商品詳情
    • 商品參數(shù)
    • 評價詳情(0)
    • 裝箱清單
    • 售后保障

    品牌：

    型號：

    所屬系列：半導(dǎo)體測試設(shè)備

     GWS-晶圓外延缺陷檢測系統(tǒng)

    從操作員的目視檢查到檢測設(shè)備的自動化

     

    1） 超越目視檢查水平的檢測性能

    2） 缺陷位置的可視化以及缺陷圖像可存儲化

    3） 可對應(yīng)OHT 和 MES 

    咨詢

    購買之前，如有問題，請向我們咨詢

    提問:
     

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的相關(guān)同類產(chǎn)品：

    服務(wù)熱線

    4001027270

    功能和特性

    價格和優(yōu)惠

    微信公眾號