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    GWM-晶圓缺陷檢測系統

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備

    庫       存:

    1

    產       地:

    全國

    數       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
    交易保障 擔保交易 網銀支付

    品牌:

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備

     邊緣檢測:對硅片外周(Bevel)進行非接觸式高速檢測。 畫像處理根據預先設定的參數條件自動提取各種缺陷,并判定是否合格。

    正面·背面檢測:檢測硅片上的凹凸缺陷。

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