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Santis 300全晶圓工業(yè)CL-SEM系統(tǒng)是全晶圓陰極發(fā)光顯微鏡,可以完全自動化控制150、200和300毫米晶圓。
優(yōu)點:
1、控制可\達300毫米的晶圓
2、高\效的CL-SEM掃描成像效率
3、同時進行電鏡成像和光學信號采集
4、邊緣檢測,晶圓準確定位(優(yōu)于10μm)
5、對晶圓翹曲度自動映射和調(diào)整
特點:
Santis 300系統(tǒng)提供3種不同的采集模式,為不同的需求和應用量身定制:
• 面掃描模式(FWBrush模式)
• 線掃描模式(AWPix模式)
• 多點掃描模式
工業(yè)市場應用:
1、GaN 及其應用:
高強度LED要求高發(fā)射效率和高可靠性。以汽 車應用為例,LED故障影響安全,危及人身安 全;UVC LED 要求高的發(fā)射效率和高的發(fā)射均勻 性;LED故障會使人的生命處于危險之中,例如在滅菌和消毒應用中。
2、光子學:激光光子學
3、電力電子應用 GaN:電力電子應用需要更大的功率、更小和更輕 的包裝,例如物聯(lián)網(wǎng)或汽車應用
4、II-VI族材料:GaAs 及其應用: 太陽能, 電力電子;電力電子SiC ;μLED
其他應用舉例:
微觀結(jié)構(gòu)發(fā)光二極管(MicroLed)
LED質(zhì)量控制
GaN中的螺紋位錯缺陷計數(shù)
碳化硅襯底質(zhì)量控制
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