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    日本三豐粗糙度儀、輪廓儀組合?

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體加工設(shè)備

    庫       存：

    8

    產(chǎn)       地：

    全國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

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    品牌：

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    所屬系列：半導(dǎo)體加工設(shè)備

     表面粗糙度測量功能

    • 高分辨率型Z1軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提供。Z1軸的最高顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。

    • X軸內(nèi)置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動距離，在高精度精準(zhǔn)定位下，完成間距參數(shù)的評價。

    • 檢出器測力有4mN和0.75mN可選。輪廓測量功能

    • Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實(shí)現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比，新測臂使Z1軸測量范圍增大了10mm 同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。

    • 專為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統(tǒng)的專用功能。

    (1) 裝配雙錐面測針，實(shí)現(xiàn)垂直方向(上/下)連續(xù)測量，所獲取的數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)簡單分析以往難以測量的內(nèi)螺紋有效直徑。

    (2) 測力可在FORMTRACEPAK軟件中設(shè)置。無需調(diào)整配重。

    • 卓越的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序，通過簡單的操作就能進(jìn)行高級分析并即刻輸出結(jié)果。

    • 表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結(jié)合在一起，節(jié)省安裝空間。

    溫馨提示：圖片及數(shù)據(jù)僅供參考、詳情以實(shí)物為準(zhǔn)、歡迎咨詢！

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