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    輪廓儀、白光干涉儀

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè):

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-表面形貌測試-表面輪廓儀

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    1

    產(chǎn)       地:

    全國

    數(shù)       量:

    減少 增加

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    面議
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     Machine model: OptiProfiler

    與工研院量測中心共同合作,開發(fā)客制化輪廓儀及白光干涉儀,提供應(yīng)力、形變、階高及三維形貌監(jiān)控解決方案。

    近年來,深受半導(dǎo)體、光電、光通訊(III-V) 、面板產(chǎn)業(yè)客戶愛戴,成功使用本設(shè)備量測監(jiān)控,提升產(chǎn)品良率與價值。

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