網(wǎng)站首頁

|EN

當前位置: 首頁 » 設備館 » 半導體測試設備 » 顯微鏡分類 » 掃描顯微鏡 »D3000系列掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡
    包郵 關注:395

    D3000系列掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備-顯微鏡分類-掃描顯微鏡

    庫       存:

    100

    產(chǎn)       地:

    全國

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
    交易保障 擔保交易 網(wǎng)銀支付
    • 商品詳情
    • 商品參數(shù)
    • 評價詳情(0)
    • 裝箱清單
    • 售后保障

    品牌:

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-顯微鏡分類-掃描顯微鏡


    D3000系列掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡
    主要技術(shù)參數(shù)

    1.掃描系統(tǒng)

    1.1 標準配置掃描模式:掃描隧道顯微鏡STM恒流/恒高模式、I-Z/I-V曲線測量;
                                             
    原子力顯微鏡AFM 接觸/橫向力/輕敲/相位模式;
                                             
    膜厚/臺階測量功能;納米刻蝕加工功能。
         
    可選配掃描模式:掃描聲學顯微鏡;摩擦力顯微鏡;磁力顯微鏡;靜電力顯微鏡;掃描開爾文探針顯微鏡;
                                          
    掃描電容顯微鏡;導電原子力顯微鏡;液相AFM;樣品加熱臺;力反饋裝置。
    1.2
    最大掃描范圍:50μm*50μm掃描器(可選配100μm*100μm掃描器)
                                     
    單個大量程自適應掃描器不更換技術(shù),最大100μm掃描器可達HOPG原子分辨率

    1.3
    最大量程掃描器分辨率:

                                    
    掃描隧道顯微鏡STMX-Y0.1nmZ0.01nm;HOPG原子定標
                                    
    接觸模式AFMX-Y0.2nm;Z0.03nm;云母晶格定標

                                    
    輕敲模式AFMX-Y0.2nm,Z0.1nm;DNA樣品驗證

    1.4
    樣品臺尺寸:直徑≤Φ70mm,厚度≤30mm,重量
    ≤15g
    1.5
    探針識別:自動識別當前針尖類型,軟硬件自動切換到相應的工作模式,無需人工干預。

    1.6
    探針保護:獨特設計的針尖保護技術(shù),包括自動進針保護和平滑移動保護,能有效降低樣品對針尖的損傷,使儀器長時間保持高分辨圖像。

    1.7
    探針趨近:高精度高速伺服電機,控制針尖自動逼近樣品,行程<30mm,最小步長
    <23nm
     

    2.
    樣品定位功能模塊

    2.1 高分辨CCD光學觀測系統(tǒng):在計算機上成像,用于觀察探針和樣品,放大倍數(shù)80—600倍,視場1.6mm,工作距離10cm,配套控制及成像軟件。一體式設計,工作過程中不必移開,可全程隨時觀測。
    2.2
    高精度電控樣品移動平臺:計算機自動控制,配合光學顯微系統(tǒng)進行精確樣品移動和定位,全程可視。

         2.2.1
    移動范圍5mm*5mm,單步最小步長
    50nm
          2.2.2
    高精度電控移動平臺和單一大量程自適應掃描器技術(shù)結(jié)合,實現(xiàn)從最大量程到最小幾納米掃描范圍內(nèi),全程計算機控制樣品定位,無盲點

          2.2.3
    直接用鼠標拖動待測區(qū)到目的地,計算機控制移動平臺自動移動

          2.2.4
    可任意設置原點位置,一鍵返回(計算機控制移動平臺自動回到設置的原點位置)

         
    廠商如只提供手動調(diào)節(jié)的精密螺桿移動平臺,則無法實現(xiàn)樣品精密定位搜尋。

    2.3
    單一大量程自適應掃描器:最大100μm掃描器可達HOPG原子分辨率,測樣過程中不用更換掃描器可實現(xiàn)從50微米幾納米掃描范圍連續(xù)定位高精度成像。

     

    3.控制系統(tǒng)

    3.1 控制/采集精度:采用雙16位掃描/采樣差分同步獨立高壓放大專利技術(shù),16通道雙16A/D (精度相當于23位);12通道16D/A;4通道雙16D/A(精度相當于23位)
    3.2
    反饋方式:8通道 數(shù)字化反饋+數(shù)控模擬反饋

    3.3
    中樞控制器:32ARM控制內(nèi)核,16 M RAM ,2M
    Flash ROM
    3.4
    中樞總線:數(shù)字總線:速度24M/s,寬度16位;外部地址總線:速度24M/s,寬度8位;固件下載總線:速度500Kb/s,寬度8位,可直接遠程下載升級可編程電子器 件中的程序;模擬總線:-10+10V,信噪比2000001。

    3.5
    中樞總線余量:3通道16D/A;3通道雙16A/D(精度相當于23位);20
    DIO
    3.6
    擴展余量:16通道16D/A16通道雙16A/D(精度相當于23位)

    3.7
    高壓單元:±300V 紋波噪聲1.5mV;4通道雙16D/A(精度相當于23位)提供掃描器XYZ三個方向的控制電壓;可擴展到8通道

    3.8
    計算機接口:USB2.0接口

    3.9
    掃描角度:-180~180連續(xù)可調(diào)

    3.10
    圖像采樣點:128×128/ 256×256 / 512×512 / 1024×1024 / 2048×2048可調(diào)

    3.11
    電流檢測靈敏度
    ≤10pA
    3.12
    力檢測靈敏度
    ≤5pN
    3.13
    預置隧道電流:1pA
    50nA
    3.14
    偏置電壓:-10
    +10V
     

    4.
    軟件系統(tǒng)

    4.1 操作系統(tǒng):Windows 98/2000/XP
    4.2
    在線控制軟件:
                    四窗口圖像界面,可觀察4個不同數(shù)據(jù)通道同步成像;
                   
    系統(tǒng)智能記憶功能:一個參數(shù)改變,相關參數(shù)會根據(jù)系統(tǒng)經(jīng)驗自動調(diào)節(jié)到最佳范圍;

                   
    壓電陶瓷非線性校正,曲面擬合校正,樣品傾斜校正等。
    4.3
    圖像處理軟件:3D顯示,濾波處理,圖像修飾,邊緣增強、形態(tài)學處理、圖像格式轉(zhuǎn)換,圖像幾何變換、調(diào)色板設置等。

    4.4
    數(shù)據(jù)分析軟件:粗糙度分析,顆粒度分析,剖面分析,膜厚分析、臺階分析、各種曲線統(tǒng)計/分析等。

    4.5
    軟件開發(fā)模板:便于用戶進行二次開發(fā),完成特殊的數(shù)據(jù)處理功能。

    4.6
    專業(yè)膜厚/臺階測量分析軟件:SPM儀器測量膜厚的技術(shù)關鍵在于有效搜尋到并能夠控制探針移動到薄膜或者臺階的邊沿,只有使用我們國內(nèi)獨家配置的高精度電控樣品移動平臺配合CCD系統(tǒng)才可以做到。

    4.7
    遠程控制軟件:支持遠程網(wǎng)控技術(shù),提供遠程培訓、遠程檢修、遠程實驗服務(選配)

    4.8
    軟件服務包:軟件以插件方式終身享受免費升級服務。 

    咨詢

    購買之前,如有問題,請向我們咨詢

    提問:
     

    應用于半導體行業(yè)的相關同類產(chǎn)品:

    服務熱線

    4001027270

    功能和特性

    價格和優(yōu)惠

    微信公眾號