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    REFLEX TT型臺式手動晶片缺陷檢測設(shè)備 宇豐凱電子

    產(chǎn)品品牌

    宇豐凱電子

    庫       存：

    100

    產(chǎn)       地：

    中國-北京市

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
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    品牌：宇豐凱電子

    型號：

    所屬系列：半導(dǎo)體測試設(shè)備-表面、內(nèi)部檢測-表面缺陷檢測

    REFLEX TT型臺式手動晶片缺陷檢測設(shè)備
     
    REFLEX TT型臺式表面檢測設(shè)備用于檢測晶片表面顆粒、劃痕，區(qū)域缺陷和微粗糙（Haze）。該檢測設(shè)備可用于不同形狀、尺寸的樣片：2”至300mm的晶片，和最大尺寸為8”*8”方形掩膜版。采用了先進的激光二極管光源和具有專利權(quán)的光學(xué)收集系統(tǒng)。該設(shè)備是非常靈活的設(shè)備，可用于研發(fā)和小規(guī)模生產(chǎn)中的工藝優(yōu)化和雜質(zhì)的檢測。
                                                 
    產(chǎn)品特點：
    顆粒敏感度可達到65nm LSE;
    激光暗場測量技術(shù)；
    可用于各種形狀的，尺寸的晶片；
    集成的微處理器和平板顯示；
    可進行離線分析；
    自動缺陷分類軟件。
     
    產(chǎn)品優(yōu)勢：
    理想的工藝研發(fā)工具；
    操作界面友好；
    多用戶界面；
    占地面積小。
     
    應(yīng)用范圍：
    硅；
    玻璃；
    掩膜版；
    半導(dǎo)體化合物：GaAs,GaN,GaAlN…
    硅襯底上的透明薄膜；
    金屬薄膜；
    非晶硅、多晶硅；
    OLED
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