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    包郵 關(guān)注:370

    晶體掃描儀—顯微掃描

    產(chǎn)品品牌

    晶體掃描儀—顯微掃描

    庫(kù)       存:

    100

    產(chǎn)       地:

    中國(guó)-江蘇省

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌:晶體掃描儀—顯微掃描

    型號(hào):

    所屬系列:半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備-顯微鏡分類(lèi)-掃描顯微鏡

    晶體掃描儀—顯微掃描】
     
    設(shè)備特點(diǎn):
    1. 采用高速相機(jī)配合高亮冷光源及光纖,保障圖像的清晰度;
    2. 夾具設(shè)計(jì)采用4x4矩陣掃描方案,提升檢測(cè)效率;
    3. 像素分辨率: 2.8um/1.4um/0.7um可選;
    4. 采用3PC分析處理方案,保障檢測(cè)效率及數(shù)據(jù)穩(wěn)定性;
    5. 可按照芯片尺寸設(shè)定最小分析單元。
     
    系統(tǒng)配置:
    用途
    1、LED外延片/芯片/PSS圖形缺陷檢測(cè)
    2、支持排線及電子印刷等圖形缺陷檢測(cè)
    型號(hào)
    XTL-2K
    載物臺(tái)
    全自動(dòng)掃描載物臺(tái)
    行程:158mm x 158mm/210mm x 210mm可選
    支持夾具定制
    反饋系統(tǒng)
    線性反饋尺, 解析率:0.1um/1.0um可選
    聚焦
    電動(dòng)聚焦系統(tǒng)
    探測(cè)系統(tǒng)
    特殊深景深顯微組合設(shè)計(jì); 高品質(zhì)彩色成像系統(tǒng);
    綜合放大倍率8.0x~100x; 超長(zhǎng)工作距離>50mm
    照明方式
    專(zhuān)用組合環(huán)形光源及同軸光可切換照明
    軟件系統(tǒng)
    高性能缺陷檢測(cè)算法軟件系統(tǒng),內(nèi)嵌美軍標(biāo)判據(jù)基準(zhǔn)軟件;
    提供各類(lèi)數(shù)據(jù)庫(kù)接口,可將測(cè)量結(jié)果上傳至工藝主控終端
    檢查性能
    高品質(zhì)自動(dòng)抓圖及拼圖功能; 結(jié)合自動(dòng)標(biāo)注存檔功能
    隔震系統(tǒng)
    隔振平臺(tái),有效隔離高頻振動(dòng)
    標(biāo)配外觀尺寸
    長(zhǎng):1200mm   寬:800mm   高:1500mm
     
     

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