網(wǎng)站首頁

|EN

當(dāng)前位置: 首頁 » 設(shè)備館 » 半導(dǎo)體測試設(shè)備 » 顯微鏡分類 » 掃描顯微鏡 »HFM-HLI型可溯源原子力顯微鏡原子力探針掃描超精密表面微納形貌和結(jié)構(gòu)測量
    包郵 關(guān)注:440

    HFM-HLI型可溯源原子力顯微鏡原子力探針掃描超精密表面微納形貌和結(jié)構(gòu)測量

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè):

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-顯微鏡分類-掃描顯微鏡

    產(chǎn)品品牌

    紅星楊科技

    規(guī)格型號:

    HFM-HLI型

    庫       存:

    100

    產(chǎn)       地:

    中國-湖北省

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付
    • 商品詳情
    • 商品參數(shù)
    • 評價詳情(0)
    • 裝箱清單
    • 售后保障

    品牌:紅星楊科技

    型號:HFM-HLI型

    所屬系列:半導(dǎo)體測試設(shè)備-顯微鏡分類-掃描顯微鏡

    HFM-HLI型可溯源原子力顯微鏡可將原子力探針與白光干涉結(jié)合,實現(xiàn)原子力探針掃描超精密表面微納形貌和結(jié)構(gòu)測量。

    1.產(chǎn)品型號:HFM-HLI

    2.產(chǎn)地:中國武漢

    3.產(chǎn)品介紹:HFM-HLI型可溯源原子力顯微鏡可將原子力探針與白光干涉結(jié)合,實現(xiàn)原子力探針掃描超精密表面微納形貌和結(jié)構(gòu)測量。

    4.技術(shù)指標(biāo):

    型號

    指標(biāo)

    HFM-HLI

    垂直分辨率 (μm)

    1nm

    垂直范圍(mm)

    3μm

    水平分辨率(μm)

    2nm

    水平范圍(mm2)

    50μm50μm

    5.應(yīng)用實例

    (1)107.3±2nm NT-MDT TGZ標(biāo)準(zhǔn)納米樣板測試結(jié)果

    201508141439513017019.jpg

     

    (2)517.5±2.5nm NT-MDT TGZ標(biāo)準(zhǔn)納米樣板測試結(jié)果

    201508141439513119627.jpg

    (3)光刻二維光柵表面測量結(jié)果

    201508141439513176610.jpg

    武漢紅星楊科技有限公司(簡稱“紅星楊科技”)是致力于光機產(chǎn)品制造商和系統(tǒng)解決方案提供商的創(chuàng)新型企業(yè)。

    紅星楊科技通過資源整合吸納了包含高校和研究所在內(nèi)的高端科研技術(shù)資源,為公司遠(yuǎn)景發(fā)展創(chuàng)造了堅實的基礎(chǔ);主營業(yè)務(wù)包含:精密位移平臺、精密運動控制、光學(xué)平臺、光學(xué)調(diào)整架、光機系統(tǒng)儀器、作物表型儀器、進(jìn)口光機產(chǎn)品。紅星楊科技將立足于光電產(chǎn)業(yè),堅持高科技、高價值、高效益三大目標(biāo),打造實力品牌優(yōu)勢、系統(tǒng)優(yōu)勢和價值優(yōu)勢的知名光電企業(yè)。

    今天;明天,無論在工業(yè)自動化、計量、顯微,生命科技,還是激光技術(shù),精密加工技術(shù);無論是半導(dǎo)體科技,數(shù)據(jù)存儲技術(shù),還是光電子/光纖,天文等領(lǐng)域,紅星楊科技的產(chǎn)品和技術(shù)將得到越來越廣泛的應(yīng)用,也贏得了越來越廣泛的贊譽。紅星楊科技“聚焦科技之美,創(chuàng)造光機精品”!

    咨詢

    購買之前,如有問題,請向我們咨詢

    提問:
     

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的相關(guān)同類產(chǎn)品:

    服務(wù)熱線

    4001027270

    功能和特性

    價格和優(yōu)惠

    微信公眾號