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    包郵 關(guān)注:761

    全自動探針臺

    產(chǎn)品品牌

    siradar

    規(guī)格型號：

    FAPS1500/FAPS2000

    發(fā)貨期限：

    30天天

    庫       存：

    50

    產(chǎn)       地：

    中國-四川省

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    ￥200000.00
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    品牌：siradar

    型號：FAPS1500/FAPS2000

    所屬系列：半導(dǎo)體測試設(shè)備-電學(xué)性能測試-全自動探針臺

     應(yīng)用方向：PD/APD芯片篩選測試，GaAs射頻芯片S參數(shù)測試，MEMS晶圓管芯篩選測試等。
     
    APS-2000半自動測試探針臺針對8英寸晶圓片測試而設(shè)計的一體化在片測試解決方案，同時可提供射頻微波、高壓大電流測量能力。探針臺載片臺平面采用鋁合金鍍金保證測試過程中的低接觸電阻、超薄晶圓片處理和功率耗散，同時提供低漏電噪聲的保護(hù)及屏蔽環(huán)境。為了保證高壓測試的人身安全，APS-2000探針臺采用了安全互鎖系統(tǒng)機(jī)構(gòu)和測試系統(tǒng)級聯(lián)。    
     
    AutoMap探針臺控制軟件簡單直觀控制載片臺XYZ三向的步進(jìn)移動，wafer圖形分布描述，芯片圖像對準(zhǔn)，坐標(biāo)定位等功能，同時配置經(jīng)典的四向迷你位置操作鍵盤。
     
    ATE2.0晶圓參數(shù)自動化測試軟件可控制多種測試儀器，包括半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、阻抗分析儀等，支持TPS200、APS-1500、FAPS-1500自動化測試探針臺，實現(xiàn)晶圓在片的自動化批量篩選測試。
     
    主要功能：
    WaferMap圖描述：采用工業(yè)相機(jī)，通過圖像算法實時掃描Wafer并對Die進(jìn)行對準(zhǔn)
    Chuck控制：AutoMap軟件或經(jīng)典鍵盤多向操控Chuck移動
    Wafer圖形模式：圓形、陣列、環(huán)形、探邊多種形式式，可自定義學(xué)習(xí)模式。
    Die坐標(biāo)查詢：實時顯示更新Die相對坐標(biāo)
    打點方式：噴墨，離線打點、異步打點
    測試接口：TTL電平、RS232、GPIB、以太網(wǎng)
    支持探針：直流鎢探針、RF探針、高壓探針，大電流探針
    支持儀器：Keysight 源表、網(wǎng)絡(luò)分析儀、LCR表；Keithley 2400,6487,2600B等
    支持軟件：ATE2.0參數(shù)測試軟件

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