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    包郵 關(guān)注:474

    單晶二硫化鉬

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè):

    半導(dǎo)體原材料-晶體-其他類晶體

    庫       存:

    10

    產(chǎn)       地:

    全國

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌:

    型號:

    所屬系列:半導(dǎo)體原材料-晶體-其他類晶體


    產(chǎn)品描述
    單晶二硫化鉬(2H-MoS?)是塊狀的。尺寸為15mm×20mm(15×10mm/10x10mm),具有弱層間耦合作用的層狀結(jié)構(gòu)。樣品附帶的數(shù)據(jù)包括拉曼光譜,光致發(fā)光和100倍光學(xué)圖像。
    描述
    拉曼光譜:薄片顯示在383cm-1(E2g-平面)和409cm-1(A1g平面外)有兩個(gè)突出的拉曼峰值,半峰高寬(FWHM)小于5cm- 1顯示出高度結(jié)晶的特性。光致發(fā)光(PL):體相(2H-MoS?)二硫化鉬間接帶隙為1.3eV。因此,PL測量不能直接探測帶隙。用高強(qiáng)度激光(熱光致發(fā)光)照射后,PL在1.3eV處顯示峰值。
    X射線衍射(XRD):XRD測量顯示(0001)峰在14度,0.04-0.06 FWHM對應(yīng)于(00L)反射。
    光學(xué)顯微鏡圖像:每個(gè)樣品在光學(xué)顯微鏡下檢查是否含有缺陷,污染和磨損。
    可能的應(yīng)用:
    電子產(chǎn)品
    傳感器 - 探測器
    光學(xué)
    STM - AFM應(yīng)用
    分子檢測 - 結(jié)合
    超低摩擦研究(摩擦學(xué))
    材料科學(xué)與半導(dǎo)體研究

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