網(wǎng)站首頁

中|EN

當(dāng)前位置: 首頁 » 耗材館 » 半導(dǎo)體原材料 » 晶體 » 其他類晶體 »單晶二硫化鉬
    •
    包郵 關(guān)注:441

    單晶二硫化鉬

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體原材料-晶體-其他類晶體

    庫       存：

    10

    產(chǎn)       地：

    全國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付
    • 商品詳情
    • 商品參數(shù)
    • 評價詳情(0)
    • 裝箱清單
    • 售后保障

    品牌：

    型號：

    所屬系列：半導(dǎo)體原材料-晶體-其他類晶體


    產(chǎn)品描述
    單晶二硫化鉬（2H-MoS?）是塊狀的。尺寸為15mm×20mm（15×10mm/10x10mm），具有弱層間耦合作用的層狀結(jié)構(gòu)。樣品附帶的數(shù)據(jù)包括拉曼光譜，光致發(fā)光和100倍光學(xué)圖像。
    描述
    拉曼光譜：薄片顯示在383cm-1（E2g-平面）和409cm-1（A1g平面外）有兩個突出的拉曼峰值，半峰高寬（FWHM）小于5cm- 1顯示出高度結(jié)晶的特性。光致發(fā)光（PL）：體相（2H-MoS?）二硫化鉬間接帶隙為1.3eV。因此，PL測量不能直接探測帶隙。用高強度激光（熱光致發(fā)光）照射后，PL在1.3eV處顯示峰值。
    X射線衍射（XRD）：XRD測量顯示（0001）峰在14度，0.04-0.06 FWHM對應(yīng)于（00L）反射。
    光學(xué)顯微鏡圖像：每個樣品在光學(xué)顯微鏡下檢查是否含有缺陷，污染和磨損。
    可能的應(yīng)用：
    l 電子產(chǎn)品
    l 傳感器 - 探測器
    l 光學(xué)
    l STM - AFM應(yīng)用
    l 分子檢測 - 結(jié)合
    l 超低摩擦研究（摩擦學(xué)）
    l 材料科學(xué)與半導(dǎo)體研究

    咨詢

    購買之前，如有問題，請向我們咨詢

    提問:
     

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的相關(guān)同類產(chǎn)品：

    服務(wù)熱線

    4001027270

    功能和特性

    價格和優(yōu)惠

    微信公眾號