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西安千月電子科技有限公司通過(guò)整合省內(nèi)外高校、研究所及相關(guān)企業(yè)測(cè)試資源，建設(shè)了測(cè)試服務(wù)平臺(tái)，具備材料組分、結(jié)構(gòu)、表面形貌、電學(xué)特性及可靠性測(cè)試能力。公司具有多名材料及半導(dǎo)體背景的資深技術(shù)人員，可為您提供一對(duì)一的測(cè)試及分析服務(wù)，為您科研提供有力支持。同時(shí)更歡迎科研人才，有識(shí)之士加入千月團(tuán)隊(duì)！
測(cè)試服務(wù):
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高分辨透射電子顯微鏡（TEM） |
JEM-3010 |
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掃描電鏡 SEM |
zeiss SIGMA 500 |
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JEM-6700F |
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FEI Quanta-450-FEG+X-MAX50 |
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S3400N |
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原子力顯微鏡(AFM) |
Veece nanoscope Ⅲ A型 |
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超聲波掃描（SAM） |
Sonoscan D24 |
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X射線衍射儀 XRD |
XRD-7000 |
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X'Pert Pro |
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日本理學(xué)Dmax-Rapid II |
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X射線光電子能譜儀(XPS） |
AXIS ULTRA |
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X射線檢測(cè)（X-Ray） |
Phoenix MICROME|X 180T |
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激光拉曼光譜儀 |
Renishaw inVia Reflex |
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傅立葉變換紅外光譜儀 |
JOEL FTIR8400 |
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穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀 |
FLS980 |
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PL熒光光譜量測(cè)系統(tǒng) |
S301-058/059 |
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PL映射系統(tǒng)PL MAPPING SYSTEM |
Platom RPM blue |
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靜電衰減測(cè)試儀 |
JCI155v6 |
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介電阻抗譜測(cè)試 |
Novocontrol GmbH Concept 40 |
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步入式現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境模擬系統(tǒng)(恒溫恒濕環(huán)境) |
X-73 |
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高低溫沖擊試驗(yàn)箱 |
ETH80-40A |
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電阻率測(cè)試儀 |
NIPPON |
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膜厚測(cè)試儀 |
橢偏儀 |
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C-V測(cè)試 |
420S |
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B1500 |
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探針臺(tái) |
EB12/PSM1000 |
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EPS 150TRIAX |
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激光共聚焦 |
OLS4100 |
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綜合物性測(cè)量 |
VersaLab |
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ECV |
EP-RE-0051 |
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顆粒儀(自動(dòng)光學(xué)檢查系統(tǒng)) |
nSpec |
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可見(jiàn)分光光度計(jì) |
CARY 5000 |
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紫外可見(jiàn)分光光度計(jì) |
Lambda950 |
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臺(tái)階儀 |
布魯克 Dektak XT |
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A-Step膜厚段差測(cè)量?jī)x |
Dektak150 |
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EL量測(cè)試系統(tǒng) |
ELV1-MP3 |
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金相顯微鏡 |
BX51M |
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HALL載流子濃度測(cè)試儀 |
HL5500PC |
商家資料
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