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    高溫反偏試驗系統(tǒng)HTRB

    應用于半導體行業(yè)：

    半導體測試設備-壽命測試設備-老化箱

    產(chǎn)品品牌

    蘇州安而森

    規(guī)格型號：

    AS-HTRB-H8M

    發(fā)貨期限：

    45天天

    庫       存：

    3

    產(chǎn)       地：

    中國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    ￥20.00
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    品牌：蘇州安而森

    型號：AS-HTRB-H8M

    所屬系列：半導體測試設備-壽命測試設備-老化箱

     1.1 名稱：高溫反偏試驗系統(tǒng)

    1.2 設備型號：AS-HTRB-H8M

    1.3 內箱尺寸W×H×D mm：600 X 600 X 600

    外箱尺寸W×H×D mm：1360×1815×1320

    內箱容積 :216L

    1.4試驗箱溫度范圍：RT+10～+200℃ 

    建議測試溫度范圍：RT+10～+175℃

    溫度均勻性：±2℃,≤150℃時；

    溫度偏差：±1.5℃ ≤125℃時；±2℃ ≤175℃時；

    帶可程序設計計時控制開關裝置，雙重超溫保護功能

    1.5制熱與溫度循環(huán)系統(tǒng)：

        加熱裝置：長壽命鎳鉻合金電熱絲式加熱器

        加熱方式：無觸點等周期脈沖調寬，平衡式調溫 P.I.D + P.W.M + S.S.R

        導風板設計：可調式導風板設計,有效提升溫分布均勻性.

        循環(huán)裝置：采用防潮兼散熱設計,不銹鋼加長軸心回圈馬達

        循環(huán)風輪：耐高低溫鋁合金多翼式回圈扇輪

      出風循環(huán)：風循環(huán)方向可根據(jù)模塊的擺放方向設計，以保證試樣處于最佳溫濕度均勻區(qū)

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