網(wǎng)站首頁(yè)

|EN

當(dāng)前位置: 首頁(yè) » 設(shè)備館 » 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備 » 其他測(cè)試設(shè)備類(lèi) »模塊高溫阻斷試驗(yàn)設(shè)備
    包郵 關(guān)注:283

    模塊高溫阻斷試驗(yàn)設(shè)備

    產(chǎn)品品牌

    西安智盈科技

    規(guī)格型號(hào):

    DBC-249-6

    庫(kù)       存:

    10

    產(chǎn)       地:

    中國(guó)-陜西省

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌:西安智盈科技

    型號(hào):DBC-249-6

    所屬系列:半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備-其他測(cè)試設(shè)備類(lèi)

     系統(tǒng)概述

    交流阻斷(或反偏)耐久性試驗(yàn)是在一定溫度下,對(duì)半導(dǎo)體器件施加阻斷(或反偏)電壓,按照規(guī)定的時(shí)間,從而對(duì)器件進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn)和耐久性評(píng)估的一種主要試驗(yàn)方法。

    一般情況下,此項(xiàng)試驗(yàn)是對(duì)器件在結(jié)溫(Tjm ℃)和規(guī)定的 交流阻斷電壓或反向偏置電壓的兩應(yīng)力組合下,進(jìn)行規(guī)定時(shí)間的 試驗(yàn),并根據(jù)抽樣理論和失效判定依據(jù),確認(rèn)是否通過(guò), 同時(shí)獲取相關(guān)試驗(yàn)數(shù)據(jù)。

    該系統(tǒng)符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、 JEDEC標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)要求。可供半導(dǎo)體器件配以適當(dāng)?shù)臏囟瓤煽匮b置, 作交流阻斷(或反偏)耐久性/ 篩選試驗(yàn)。能滿足IGBT進(jìn)行高溫反偏耐久性試驗(yàn)、高溫漏電流測(cè)試(HTIR)和老煉篩選。

    咨詢

    購(gòu)買(mǎi)之前,如有問(wèn)題,請(qǐng)向我們咨詢

    提問(wèn):
     

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的相關(guān)同類(lèi)產(chǎn)品:

    服務(wù)熱線

    4001027270

    功能和特性

    價(jià)格和優(yōu)惠

    微信公眾號(hào)