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    偏振相關(guān)損耗測試儀

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-光學(xué)類測試-其他

    產(chǎn)品品牌

    蘇州光環(huán)

    庫       存：

    100

    產(chǎn)       地：

    中國-江蘇省

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
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    品牌：蘇州光環(huán)

    型號：

    所屬系列：半導(dǎo)體測試設(shè)備-光學(xué)類測試-其他

     

    產(chǎn)品簡介：

       采用最大最小搜索法的專利技術(shù)，通用光電公司的PDL測量儀能在30ms內(nèi)，同時測量待測器件的偏振相關(guān)損耗（PDL），插入損耗（IL）和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同，PolaCHEXTM有條理地搜索最大和最小透過率，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時刻的測量精度。因此可獲得最精確的PDL值。PolaCHEX覆蓋了較寬的波長范圍：1260~1650 nm，無需波長校準(zhǔn)，比基于Mueller矩陣方法測得的PDL值更準(zhǔn)確。它帶有USB、以太網(wǎng)、GPIB和RS-232接口，用于電腦控制。它能快速、精確測量與波長相關(guān)的無源器件的特性，尤其適用于制造或?qū)嶒炇抑蠨WDM、光纖傳感元件。與PDL-101相比，PDL-201具有較快的測量速度，較大的測量動態(tài)范圍，更明亮的顯示屏，以及用于集成的附加模擬輸出端口。

     

     

    產(chǎn)品指標(biāo)：

    工作波長

    1260~1650nm

    分辨率

    0.01dB

    PDL測量精度

    ±0.01 +5%×PDL dB

    PDL測量重復(fù)性

    ±0.005 +2%×PDL dB

    PDL動態(tài)范圍

    0~45dB

    IL測量精度

    ±0.01 +5%×IL dB

    IL測量重復(fù)性

    ±0.005 +2%×IL dB

    IL動態(tài)范圍

    0~45dB

    光功率范圍

    -40~+6dBm

    光功率不確定性

    ±0.25dB

    光功率測量校準(zhǔn)波長

    1260~1360nm 或 1440~1620nm

    測量速度

    30ms（一次測量，輸入光＞-30dBm）

    工作溫度

    0~50℃

    儲存溫度

    -20~70℃

    顯示

    OLED彩色顯示

    模擬輸出

    0~4V，或用戶設(shè)置

    電源

    100~240V交流，50~60Hz

    接口類型

    USB、以太網(wǎng)、RS232和GPIB

    外形尺寸

    2U， 14”(L)×8.5”(W) ×3.5”(H)
     

     

     

     

    產(chǎn)品特性：                                                                            產(chǎn)品應(yīng)用：
          30 ms的測量速度                                                                    PDL與波長測量
         較寬的波長范圍                                                                       DWDM器件特性測試
         PDL測量精度高                                                                       光纖傳感元件特性測試
         PDL模擬輸出
         高亮的OLED屏

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