符合MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求；
系統(tǒng)適用于各種封裝形式的SRAM，DRAM，SDRAM ，F(xiàn)LASH，DDR，RDRAM等器件進(jìn)行高溫動態(tài)老化篩選，并且在老化過程中對被試驗(yàn)器件(DUT)進(jìn)行功能測試(TDBI);
一板一區(qū)，可滿足16種不同試驗(yàn)參數(shù)的器件同時(shí)老化;可根據(jù)用戶的需求，定制各種老化板及測試程序;
PH-201大容量高溫試驗(yàn)箱一臺；
內(nèi)箱尺寸：60cm×60cm×60cm，水平風(fēng)道設(shè)計(jì)；
16個(gè) 試驗(yàn)區(qū)域（一板一區(qū)），每個(gè)試驗(yàn)通道為24的整數(shù)倍，以8位存儲器為例，老化測試工位最多可達(dá)到24×8＝192片，整機(jī)可到達(dá)192×16＝3072片；
標(biāo)配8臺12V/80A程控?cái)?shù)字電源；試驗(yàn)電源過壓、欠壓、過流、短路和過熱等保護(hù)功能，確保試驗(yàn)電源的可靠性；
計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)檢測并記錄電源的輸出電壓、電流，便于試驗(yàn)監(jiān)控；工業(yè)級電腦主機(jī)、液晶顯示器、專用鍵盤及鼠標(biāo)，WINDOWS操作界面，友好的人機(jī)對話窗口， 強(qiáng)大的圖形編輯能力以及強(qiáng)大的器件庫供用戶選擇，軟件操作簡單易學(xué)，更有系統(tǒng)查詢診斷功能， 試驗(yàn)狀況一目了然，方便用戶隨時(shí)查驗(yàn)；
多達(dá)幾百種按軍標(biāo)要求設(shè)計(jì)的老化試驗(yàn)板供用戶選擇，各種基板和老化座均耐高溫、抗氧化、耐疲勞；
供電電源：單相AC220V±10%，47Hz~63Hz，6KW；外形尺寸：W1360mmхH1820mmхD1320mm；重量：約500kg 。
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