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高低溫探針卡道格特科技可以解決在晶圓測(cè)試中的形變,針尖水平度差異大的問題

高、低溫探針卡的測(cè)試環(huán)境苛刻，針卡局部溫度變化大，DGT公司經(jīng)過30多年的經(jīng)驗(yàn)積累，解決了高、低溫探針卡在晶圓測(cè)試中的形變、針尖水平度差異大的問題。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

高、低溫測(cè)試（-40--150℃）

ReW/OC材質(zhì)

平整度高

多Sites同測(cè)

公司概況

深圳市道格特科技有限公司（DGT），位于科技企業(yè)林立、中國(guó)改革開放第一市——深圳市。

深圳市道格特科技有限公司（DGT）專注于半導(dǎo)體晶圓（IC）測(cè)試、LCD屏測(cè)試、DRAM測(cè)試等測(cè)試用探針卡等測(cè)試用探針卡（Probe Card）設(shè)計(jì)、制造、維護(hù)，晶圓探針、LED點(diǎn)

測(cè)針的銷售。

技術(shù)實(shí)力

DGT公司通過吸收美國(guó)和日本探針卡（Probe Card）制造技術(shù)，發(fā)揮自身自動(dòng)設(shè)備研發(fā)的專長(zhǎng)，研發(fā)出更高精度、自動(dòng)化、一體化的生產(chǎn)設(shè)備，在此基礎(chǔ)上公司可生產(chǎn)最小壓點(diǎn)

（Pad）尺寸15×30μm，壓點(diǎn)中心（Gap）最小間距20μm，多芯同測(cè)（128Sites），放針可達(dá)12層，單針卡制造技術(shù)已達(dá)5000Pins，單針滿足大電流達(dá)2A以上，低漏電0.1pA

以內(nèi)，測(cè)試溫度范圍-40℃--+150℃，高頻超過2GHz以上，超大電流、大電壓（200A、6500V）等不同測(cè)試要求的探針卡，廣泛應(yīng)用于國(guó)內(nèi)、外各種高端測(cè)試平臺(tái)。

經(jīng)營(yíng)策略

以科技為向?qū)?、質(zhì)量為基礎(chǔ)，高效快速滿足客戶需要。

公司定位

為客戶提供專業(yè)的測(cè)試界面解決方案。

公司理念

專業(yè)、精準(zhǔn)、高效

高低溫探針卡可以解決在晶圓測(cè)試中的形變,針尖水平度差異大的問題

應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

產(chǎn)品品牌

規(guī)格型號(hào)：

庫存：

產(chǎn) 地：

數(shù) 量：

價(jià) 格：

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