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    包郵 關(guān)注:285

    VDMS-2000

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè):

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-其他測試設(shè)備類

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    10

    產(chǎn)       地:

    全國

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    減少 增加

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     可以在高低溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能;
    ■可以分析樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時間譜等測量功能;
    ■可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗,電容C,損耗D,電感L,品質(zhì)因數(shù)Q,阻抗Z等物理量;
    ■可以實現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個溫度、多個頻率變化的曲線,時間和電壓變化的曲線;
    ■集多種測量功能于一體高溫測量平臺,配合高阻表可以測量高溫電阻和熱激勵電流(選件);
    ■符合ASTMD150和 D2149-97國際標(biāo)準,同時也符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的推薦方法。

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