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    C系列探針臺臺體 北京美亞先科技

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備-電學性能測試-手動探針臺

    產(chǎn)品品牌

    北京美亞先

    庫       存:

    100

    產(chǎn)       地:

    中國-上海市

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
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    品牌:北京美亞先

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-電學性能測試-手動探針臺

    C系列探針臺臺體 北京美亞先科技
    性能:
    • 真空吸附6"卡盤: 有4", 6",8"產(chǎn)品可選
    • 卡盤X-Y方向線性移動行程:6"-6"
    • 卡盤上/下移動行程:4mm
    • 全新設計,體積小重量輕,可便攜使用
    • 同軸滑臺,單手即可操控X-Y兩軸的精確移動
    • 線性無回差調節(jié)
    • 改進的低重心設計使臺體更加穩(wěn)定
    • 吸盤可快速升降也可精細慢調,故樣品在Z軸方向可快速調節(jié)也可細步慢調
    • 適用領域:6”晶圓或其他樣品點測,包括大學與科研單位、晶圓廠、光電器件、IV/CV及RF測試等   
    附件:
    • 鍍金卡盤
    • 射頻測試探頭/電纜
    • 有源探頭
    • 低電流/電容測試
    • 高壓測試
    • 激光修復
    • CCD/數(shù)字相機,USB接口
    • 探針卡/封裝/PCB板夾具
    • 加熱裝置
    • 防震桌
    • 屏蔽箱
    • 顯微鏡暗場/Normarski 檢測
    • \\\\


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