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    高低溫試驗箱,半導體高低溫老化試驗箱

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備-壽命測試設備-老化箱

    產品品牌

    上海雋思

    庫       存:

    5

    產       地:

    全國

    數       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
    交易保障 擔保交易 網銀支付

    品牌:上海雋思

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-壽命測試設備-老化箱


     高低溫試驗箱,半導體高低溫老化試驗箱簡介

       高低溫試驗箱,低溫老化試驗機用于試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干性能。適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質量之用。

    高低溫試驗箱,半導體高低溫老化試驗箱特點
    高質感外觀,機體采圓弧造型,表面經霧面條紋處理,并采用平面無反作用把手,操作容易,安全可靠。 
    長方形復層玻璃觀窗口,可在試驗中進行試驗品觀察使用,窗口具防汗電熱器裝置可防止水氣凝結水滴,及高亮度PL熒光燈保持箱內照明。 
    箱門雙層隔絕氣密迫緊,可有效隔絕內部溫度泄漏。 
    具可外接式供水系統(tǒng),方便于補充加濕桶供水,并自動回收使用。 
    壓縮機循環(huán)系統(tǒng)采用法國“泰康”牌,更能有效去除冷凝管與毛細管間的潤滑油并全系列采用環(huán)保冷媒(R23、R404、R507)。 
    控制器采用進口LCD顯示屏幕,可同時顯示測定值及設定值、時間。 
    控制器具有多段程序編輯及溫度、濕度可做快速(OUICK)或斜率(SLOP)控制。 
    內置式移動滑輪便于移動及擺放并具有強力定位螺絲固定位置。
    執(zhí)行標準與試驗方法
    GB11158         高溫試驗箱技術條件 
    GB10589         低溫試驗箱技術條件 
    GB10592-89       高低溫試驗箱技術條件 
    GB/T2423.1-2001    低溫試驗箱試驗方法 
    GB/T2423.2-2001    高溫試驗箱試驗方法 
    GB/T2423.22-2001   溫度變化試驗方法 
    IEC60068-2-1.1990  低溫試驗箱試驗方法 
    IEC60068-2-2.1974  高溫試驗箱試驗方法 
    GJB150.3         高溫試驗 
    GJB150.4         低溫試驗
    高低溫試驗箱,半導體高低溫老化試驗箱技術參數

    降溫時間約:約1.0℃/分鐘(每分鐘下降5~10℃為特殊選用條件);
    溫度范圍:-120、-80、-40℃~+100℃(150℃)(溫度可選);
    溫度均勻度:±2.0℃;
    溫度波動度:±1℃
    升溫時間約:4.0℃/分鐘; 
    內部尺寸:1000*1000*1000(mm)可選擇

    內外部材質:全機為SUS 304#不銹鋼板霧面處理,內箱為不銹鋼 
    保溫材質:耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料 
    冷卻系統(tǒng): 風冷式/雙段壓縮機 
    保護裝置:無熔絲開關、壓縮機過載保護開關、冷媒高低壓保護開關、超濕度超溫保護開關、保險絲、故障警告系統(tǒng) 
    配件:觀視窗、50mm測試孔、內部照明燈、分層隔板、干濕球紗布 

    壓縮機:法國泰康
    電源: 220VAC±10% 50/60Hz 、 380VAC±10% 50/60Hz

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