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    8英寸射頻芯片專用探針臺

    應用于半導體行業(yè)：

    半導體測試設備-電學性能測試-手動探針臺

    產品品牌

    siradar

    規(guī)格型號：

    TPS200RF

    發(fā)貨期限：

    30天

    庫       存：

    50

    產       地：

    中國-四川省

    數       量：

    減少 增加

    價       格：

    ￥180000.00
    交易保障 擔保交易 網銀支付

    品牌：siradar

    型號：TPS200RF

    所屬系列：半導體測試設備-電學性能測試-手動探針臺

     應用方向：GaAs等射頻芯片S參數測試


    TPS200RF半自動測試探針臺針對8英寸晶圓片測試而設計的一體化在片測試解決方案，專門為射頻微波芯片參數測試而設計。探針臺載片臺平面采用鋁合金鍍金保證測試過程中的低接觸電阻、超薄晶圓片處理和功率耗散，同時提供低漏電噪聲的保護及屏蔽環(huán)境。產品可替代美國CASCADE對應的探針臺Summit12000。

     

    AutoMap探針臺控制軟件簡單直觀控制載片臺XYZ三向的步進移動，wafer圖形分布描述，芯片圖像對準，坐標定位等功能，同時配置經典的四向迷你位置操作鍵盤。

     

    ATE2.0 S參數自動化測試軟件可控制網絡分析儀、阻抗分析儀等，支持自動化測試探針臺，實現晶圓在片的自動化批量篩選測試。


    主要功能：
    WaferMap圖描述：采用工業(yè)相機，通過圖像算法實時掃描Wafer并對Die進行對準
    Chuck控制：AutoMap軟件或經典鍵盤多向操控Chuck移動
    Wafer圖形模式：圓形、陣列、環(huán)形、探邊多種形式式，可自定義學習模式。
    Die坐標查詢：實時顯示更新Die相對坐標
    打點方式：噴墨，離線打點、異步打點
    測試接口：TTL電平、RS232、GPIB、以太網
    支持探針：直流鎢探針、RF探針、高壓探針，大電流探針
    支持儀器：網絡分析儀、LCR表
    支持軟件：ATE2.0參數測試軟件

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