型號:SS-200
亞微米電路/射頻測試針座
特點
亞微米工藝集成電路電路測試
線性，無后座力移動
可以配合同軸/三軸探針夾具使用
夾具可以30度范圍傾仰
可以使用鎢探針
可以配置為東/南/西/北四個方向的射頻針座
射頻測試能力：直流到 40GHz ~ 120GHz
多腳探頭測試范圍：直流到40GHz 或者 67Ghz
可以配合使用校準片和校準軟件
探頭接口和線纜45度連接，無需L型轉接頭
探頭可以拆卸維修
射頻測試線固定裝置
規(guī)格
X-Y-Z方向行程 12mm x 12mm x 12mm
線性移動
絲杠精度 200 Thread / Inch
移動精度 0.35 微米
尺寸
100mm長 x 140mm寬 x 100mm高
重 1100 克
型號:SS-100
亞微米電路/射頻測試針座
特點
亞微米工藝集成電路電路測試
線性，無后座力移動
可以配合同軸/三軸探針夾具使用
夾具可以30度范圍傾仰
可以使用鎢探針
可以配置為東/南/西/北四個方向的射頻針座
射頻測試能力：直流到 40GHz ~ 120GHz
多腳探頭測試范圍：直流到40GHz 或者 67Ghz
可以配合使用校準片和校準軟件
探頭接口和線纜45度連接，無需L型轉接頭
探頭可以拆卸維修
帶射頻測試線固定裝置
規(guī)格
X-Y-Z方向行程 12mm x 12mm x 12mm
線性移動
絲杠精度 100 Thread / Inch
移動精度 0.7 微米
尺寸 90mm長 x 130mm寬 x 90mm高
重1000 克
型號:SS-80
電路/射頻測試針座
特點
線性移動
I/O Pad 點測
電路點測
射頻測試
較小的體積
可以配合同軸/三軸探針夾具使用
規(guī)格
X-Y-Z移動行程 12mm x 12mm x 12mm
線性移動
絲杠精度 80 Thread / Inch
移動精度 5 微米
尺寸 52mm寬 x 96mm長 x 76mm高
重 550 克
型號:SS-40
I/O Pad /Electro-Optics光電測試針座
特點
價格實惠
線性移動
I/O Pad 點測
光電器件點測
體積小
可以配合同軸/三軸探針夾具使用
規(guī)格
移動行程 12mm x 12mm x 12mm
線性移動
絲杠精度 40 Thread / Inch
移動精度 10 微米
尺寸 38mm寬x 62mm長 x 45mm高
重200 克
EB200/EB005/EB050/EB700附件
三軸探針夾具
同軸探針夾具
磁力底座，磁力翻轉底座，真空底座
軟件控制自動化針座
有源探頭
超聲波切割
低電流/電熱點測
高壓點測
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