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關(guān)注:199
科興 國標(biāo) 單面平面平晶 廠家直銷 按需求定制
產(chǎn)品品牌
科興
規(guī)格型號(hào)：
30-400mm
發(fā)貨期限：
60天
庫 存：
60
產(chǎn) 地：
中國-吉林省
| 起 批 |
1-50件 |
51件以上 |
| 價(jià) 格 |
￥660.00 |
￥110.00 |
用途：
平面平晶是用于以干涉法測(cè)量塊規(guī)，以及檢驗(yàn)塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面、測(cè)量儀器及測(cè)量工具量面的研合性和平面度的常用工具。
適用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計(jì)量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場檢測(cè)使用，也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等檢測(cè)。
咨詢
主要技術(shù)規(guī)格：
1、平面平晶 YDF-1標(biāo)準(zhǔn)外形尺寸單位：mm
規(guī)格30 45 60 80 100 150 200 250
直徑30 45 60 80 100 150 200 250
高度15 15 20 20 25 30 40 45
特殊規(guī)格尺寸平面平晶，環(huán)形平面平晶，方形平面平晶可定做。
2、平面平晶制成兩種精度：1級(jí)和 2級(jí)
3、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為：
直徑為 30至60mm 1級(jí)平晶 0.03μm
直徑為 30至60mm 2級(jí)平晶 0.1μm
直徑為 80至150mm 1級(jí)平晶 0.05μm
直徑為 80至150mm 2級(jí)平晶 0.1μm
更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值，根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)。
4、平面平晶工作面的局部偏差允許值為：0.03μm
5、平面平晶測(cè)量工作應(yīng)在室溫2 0℃±3℃條件下保持?jǐn)?shù)小時(shí)后進(jìn)行。
檢測(cè)方法：用干涉條紋來計(jì)算平晶的面形誤差 如果要定量計(jì)算，一般最好是用移相干涉法，可以得到每一點(diǎn)的相對(duì)高度，從而得到整個(gè)面的面形。如果只有一幅干涉圖，就只能傾斜平晶或者參考鏡使得干涉條紋變成密集的直線組，然后用傅里葉變換法求解。 如果只是定性的看一看面形好壞則比較簡單了，如果條紋都是直條紋，說明面形是好的，如果條紋彎的就說明面形不好，彎的越厲害面形越差。
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