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    LCD光學(xué)顯微鏡

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-顯微鏡分類

    庫       存：

    25

    產(chǎn)       地：

    全國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
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    品牌：

    型號：

    所屬系列：半導(dǎo)體測試設(shè)備-顯微鏡分類


    （1）IC Burn in system簡介
    質(zhì)量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以說是IC產(chǎn)品的生命，好的品質(zhì)，長久的耐力往往就是一顆優(yōu)秀IC產(chǎn)品的競爭力所在，Burn in(老化)試驗就是在高溫情況下模擬IC的工作狀態(tài)，從而篩除早夭期產(chǎn)品，推算出產(chǎn)品的壽命。
    （2）HTGB/HTRB（正向偏壓/反向偏壓） 系統(tǒng)簡介：
    功率器件之壽命是其Datasheet(產(chǎn)品信息表)中至關(guān)重要的一個環(huán)節(jié)，為了能夠有效的提高產(chǎn)品的良率，在新產(chǎn)品量產(chǎn)之前，往往要先經(jīng)過試驗才能決定是否量產(chǎn)，本系統(tǒng)即為搭配老化板在175攝氏度高溫下對器件進(jìn)行偏壓試驗，針對不同測試標(biāo)準(zhǔn)（JEDEC,MIL,AEC等）得出測試結(jié)果之有效途徑。
    GR-20-200系列
    1、機(jī)臺型號：HTGB/HTRB Test Oven
    機(jī)臺型號 200（℃） 250（℃） 300（℃）
    HTGB      ◎ 
    HTRB      ◎ 
    2、機(jī)臺尺寸：
    機(jī)臺型號 HTGB/ HTRB
    內(nèi)箱尺寸(cm)（Ｗ×Ｈ×Ｄ） 60×70×60
    外箱尺寸(cm)（Ｗ×Ｈ×Ｄ） 134×170×100
    3、機(jī)臺結(jié)構(gòu)與材質(zhì)：
    　?。ǎ粒﹥?nèi)外箱材質(zhì)：內(nèi)部採用SUS#304不銹鋼材質(zhì)，外部鐵板烤漆。
    　?。ǎ拢┍夭馁|(zhì)：　內(nèi)箱外圍為高密度保溫棉。
    　?。ǎ茫└綄僭O(shè)備：　專用測試 Rack ( built-in )
    4、Test Oven一次測需求電壓：1ψ 220V  50Hz  Max.: 30A
    5. 使用溫度范圍 : 常溫+10℃ ~ 200℃
    6、溫度均勻度：±1.5% (空載測試 )
    7、溫度解析精度： 0.1℃
    8、DC 110V,3A Power Supply 一次測需求電壓：1ψ 220V  50Hz  Max.: 5A x 2 sets
    9、DC 1500V, 1A Power Supply 一次測需求電壓：1ψ 220V  50Hz  Max.: 20A x 2 sets

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