深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司

主要探針臺(tái)產(chǎn)品包括：半自動(dòng)探針臺(tái)，真空探針臺(tái)，太赫茲探針臺(tái)，硅光探針臺(tái)，高低...

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公司介紹
 深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司，品牌：GBITEST。 致力于為用戶提供精密的半導(dǎo)體晶圓級(jí)在片測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng)和射頻微波器件測(cè)量系統(tǒng)，微組裝封裝工藝檢測(cè)系統(tǒng)以、失效分析系統(tǒng)以及材料測(cè)試等系統(tǒng)集成方案。特別是我們提供的探針臺(tái)在片系統(tǒng)，已被全球客戶廣泛地應(yīng)用于I-V／C-V測(cè)試，脈沖I-V測(cè)試，RF/mmW測(cè)試，高壓、大電流測(cè)試，MEMS、芯片光耦合，光電器件測(cè)量、射頻校準(zhǔn)、晶圓級(jí)失效分析、霍爾測(cè)試、CP測(cè)試等解決方案中。主要探針臺(tái)產(chǎn)品包括：半自動(dòng)探針臺(tái)，真空探針臺(tái)，太赫茲探針臺(tái)，硅光探針臺(tái)，高低溫探針臺(tái)，微光顯微鏡，超低溫探針臺(tái)，光電探針臺(tái)，輻照探針臺(tái)，射頻探針臺(tái)，全自動(dòng)探針臺(tái)，手動(dòng)探針臺(tái)等。
公司檔案
公司名稱： 深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司 公司類型： 企業(yè)單位 ()
所 在 地： 中國/廣東省 公司規(guī)模：
注冊(cè)資本： 未填寫 注冊(cè)年份： 2011
資料認(rèn)證：  
經(jīng)營(yíng)范圍： 主要探針臺(tái)產(chǎn)品包括：半自動(dòng)探針臺(tái)，真空探針臺(tái)，太赫茲探針臺(tái)，硅光探針臺(tái)，高低溫探針臺(tái)，微光顯微鏡，超低溫探針臺(tái)，光電探針臺(tái)，輻照探針臺(tái)，射頻探針臺(tái)，全自動(dòng)探針臺(tái)，手動(dòng)探針臺(tái)等。
主營(yíng)行業(yè)：
半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備